[发明专利]一种非接触式空间点位测量方法及装置在审

专利信息
申请号: 201911143111.7 申请日: 2019-11-20
公开(公告)号: CN110849273A 公开(公告)日: 2020-02-28
发明(设计)人: 刘刚;吕圣炜;代立扬;陆智健;袁新然;徐钊 申请(专利权)人: 上海电力大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01S17/08;G01B11/00
代理公司: 南京禹为知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32272 代理人: 吴肖敏
地址: 200090 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 接触 空间 测量方法 装置
【说明书】:

发明公开了一种非接触式空间点位测量方法及装置,其包括,步骤一:确定空间内的第一目标点A和第二目标点B;步骤二:选定观测点O,设定基准面M;步骤三:测量出观测点O与第一目标点A之间的直线距离L1,并测量出该两点所在方向线与基准面M之间的第一竖直角α;步骤四:测量出观测点O与第二目标点B之间的直线距离L2,并测量出该两点所在方向线与基准面M之间的第二竖直角β;步骤五:测量出观测点O分别至两个目标点的两条方向线的水平角γ;步骤六:基于上述数据并通过余弦定理求得第一目标点A与第二目标点B之间的距离L3。本发明能够解决工程施工现场中多种测量场景不便操作仪器的情形,且能够测量出空间任意两个目标点之间的距离。

技术领域

本发明涉及工程施工技术领域,特别是一种非接触式空间点位测量方法及装置。

背景技术

测量是工程施工的重要环节,工程施工中经常存在某些情况下测距难的问题,比如需要测量的目标较高或带电体的测量等,这些情况给工程测距带来了很多不便。测量工作是基础和关键,是一切施工项目开始生产建设的前提,是工程施工的首要工序。测量工作的好坏,直接影响到工程的进度与质量,测量工作的效率直接影响到工程的工期与经济效益。

随着科技的发展,传统的测量工具已经越来越不能满足现代工程测量环境的要求,激光测距仪的出现满足了准确、便捷的测距需要。但对于普通的激光测距仪,只能测量观测点(测量员的观测点位)到目标点间的距离,也即测量员在测量物体长度或距离时,必须将激光测距仪放置于待测物体的其中一个起点上,通过激光打到待测物体另一个终点上方可读出长度值。而对于:1)待测物体在高处,且需要测量其长度;2)待测物体带电;3)测站点难以选定、测量空间有限导致测量仪难以站立在观测点等上述情况时,将会给测量工作带来不小的难度并且耗时耗力,严重降低了效率;特别是一些超高压带电设备搭建与维护的定位与测距更是难上加难。现有的测距方法往往也是测量测量仪所在点和目标点之间的距离,这种测距方式具体使用范围的局限性,基于传统的测距方法不仅使工程施工过程变得繁琐且效率低下,人员安全也是一个不容忽视的问题。目前还没有能够直接测量空间上非接触两点(测量两个目标点的距离而非测量仪所在点和目标点)的仪器和方法。

发明内容

本部分的目的在于概述本发明的实施例的一些方面以及简要介绍一些较佳实施例。在本部分以及本申请的说明书摘要和发明名称中可能会做些简化或省略以避免使本部分、说明书摘要和发明名称的目的模糊,而这种简化或省略不能用于限制本发明的范围。

鉴于现有技术中存在的问题,提出了本发明。

因此,本发明其中的一个目的是提供一种非接触式空间点位测量方法,其能够解决工程施工现场中多种测量场景不便操作仪器的情形,且能够测量出空间任意两个目标点之间的距离。

为解决上述技术问题,本发明提供如下技术方案:一种非接触式空间点位测量方法,其包括如下步骤:步骤一:确定空间内的两个目标点,分别为第一目标点A和第二目标点B;步骤二:选定观测点O,并设定观测点O所在的水平面为基准面M;步骤三:测量出观测点O与第一目标点A两点之间的直线距离L1,并测量出该两点所在方向线与基准面M之间的第一竖直角α,-π/2<α<π/2;步骤四:测量出观测点O与第二目标点B两点之间的直线距离L2,并测量出该两点所在方向线与基准面M之间的第二竖直角β,-π/2<β<π/2;步骤五:测量出观测点O分别至两个目标点的两条方向线在水平面上投影的水平角γ,0<γ≤π/2;步骤六:基于上述测得的各项数据并通过余弦定理求得第一目标点A与第二目标点B之间的直线距离L3。

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