[发明专利]缺陷检测装置及方法有效
| 申请号： | 201911137321.5 | 申请日： | 2019-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN110779928B | 公开（公告）日： | 2022-07-26 |
| 发明（设计）人： | 汪科道 | 申请（专利权）人： | 汪科道 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 苏州彰尚知识产权代理事务所(普通合伙) 32336 | 代理人： | 潘剑 |
| 地址： | 201100 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种缺陷检测装置及方法，所述装置包括运动部件、采像部件以及处理部件，处理部件与运动部件、采像部件连接，处理部件包括：路径规划模块：用于根据检测对象的所有可采像位置及预设的第一抽样比例，确定多个第一采像位置；根据每个第一采像位置的第一检测图像，确定第一缺陷概率；根据第一缺陷概率及预设缺陷概率，建立概率矩阵；并将概率矩阵拆分成多个子矩阵，确定每个子矩阵对应的局部区域的第二缺陷概率；判定模块：用于将第二缺陷概率中的最大值确定为第三缺陷概率，当第三缺陷概率大于或等于缺陷概率阈值时，检测对象判定为有缺陷，反之则判定为无缺陷。本发明的实施例可提高缺陷检测的效率以及检测结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种缺陷检测装置，其特征在于，所述装置包括运动部件、采像部件以及处理部件，所述处理部件与所述运动部件、所述采像部件连接，所述运动部件用于对检测对象进行抓取和/或摆放，和/或对所述采像部件进行运动，所述采像部件用于对所述检测对象进行采像，所述处理部件包括：/n路径规划模块：用于根据所述检测对象的所有可采像位置及预设的第一抽样比例，确定所述检测对象的多个第一采像位置；/n根据所述采像部件采集的每个第一采像位置的第一检测图像，确定所述每个第一采像位置的第一缺陷概率；/n根据所述第一缺陷概率及所述所有可采像位置除第一采像位置之外的位置的预设缺陷概率，建立概率矩阵；/n根据预设的子矩阵尺寸，将所述概率矩阵拆分成多个子矩阵，确定每个子矩阵对应的局部区域的第二缺陷概率；/n判定模块：用于将所有第二缺陷概率中的最大值确定为所述检测对象的第三缺陷概率，当所述第三缺陷概率大于或等于缺陷概率阈值时，检测对象判定为有缺陷，反之则判定为无缺陷。/n
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