[发明专利]一种测量纳米器件输运性质的系统和方法有效
| 申请号： | 201911133287.4 | 申请日： | 2019-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN110824249B | 公开（公告）日： | 2021-03-09 |
| 发明（设计）人： | 赵宇曦;秦熙;肖庆;程光磊;杜江峰 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01R23/18 | 分类号： | G01R23/18;G01R23/167;G01R13/00;G01R13/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 纪志超 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种测量纳米器件输运性质的系统和方法，利用FPGA性能高、I/O接口多和可重复配置的优点，控制数据转换单元输出信号并采集信号，对纳米器件进行控制和读出，以测量和表征纳米器件的输运性质，其是一种集成度高、多通道、具有高精度和低噪声优点的系统。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 纳米 器件 输运 性质 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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