[发明专利]一种表面二阶非线性光学测试装置及测试方法在审
| 申请号： | 201911113144.7 | 申请日： | 2019-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN111077117A | 公开（公告）日： | 2020-04-28 |
| 发明（设计）人： | 李丙轩;张戈;廖文斌;黄凌雄;陈玮冬;林长浪 | 申请（专利权）人： | 中国科学院福建物质结构研究所 |
| 主分类号： | G01N21/55 | 分类号： | G01N21/55 |
| 代理公司： | 北京元周律知识产权代理有限公司 11540 | 代理人： | 校丽丽 |
| 地址： | 350002 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种表面二阶非线性光学测试装置及其测试方法，所述装置通过激光单元以指定角度向待测样品发射入射光，利用检测单元接收入射光射向待测样品后产生的反射光，并对反射光的信号强度进行检测，得到待测样品表面的二阶非线性光学信息，其中反射光为入射光的倍频光。本发明通过测试激光以指定角度射向待测样品后产生的倍频激光来判断待测样品是否具有倍频效应以及倍频能力的强弱。本发明适用于测试对激光有较强吸收的待测样品，由于本发明激光以指定角度入射待测样品，入射激光仅在待测样品的表面产生反射，避免了待测样品对激光的吸收，测量结果更加可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 表面 非线性 光学 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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