[发明专利]一种基于相推法的光器件时延测量方法及装置有效
| 申请号： | 201911057880.5 | 申请日： | 2019-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN110715796B | 公开（公告）日： | 2020-08-28 |
| 发明（设计）人： | 潘时龙;李树鹏;卿婷;傅剑斌;潘万胜 | 申请（专利权）人： | 南京航空航天大学;苏州六幺四信息科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 杨楠 |
| 地址： | 210000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于相推法的光器件时延测量方法，预先根据测量需求确定扫频频率范围并在其中选取多个扫频频点；在每一个扫频频点，用该频率的微波调制信号对光载波进行调制，并通过鉴相器测量出调制光信号经过待测光器件前后微波调制信号的相位变化；对所测得的一系列相位变化进行相位展开，并利用相位展开所得到的各扫频频点的展开相位计算出最大扫频频点的整周模糊度，最后根据所述最大扫频频点的整周模糊度计算出待测光器件的时延。本发明还公开了一种基于相推法的光器件时延测量装置。本发明可大幅度减少扫描频点数，从而提高测量效率并减少环境误差对测量的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 相推法 器件 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于相推法的光器件时延测量方法，预先根据测量需求确定扫频频率范围并在其中选取多个扫频频点；在每一个扫频频点，用该频率的微波调制信号对光载波进行调制，并通过鉴相器测量出调制光信号经过待测光器件前后微波调制信号的相位变化；对所测得的一系列相位变化进行相位展开，并利用相位展开所得到的各扫频频点的展开相位计算出最大扫频频点的整周模糊度，最后根据所述最大扫频频点的整周模糊度计算出待测光器件的时延；其特征在于，所选取的最小扫频频点频率ω
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京航空航天大学;苏州六幺四信息科技有限责任公司，未经南京航空航天大学;苏州六幺四信息科技有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911057880.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
