[发明专利]一种LED多角度光学测试装置及测试方法

摘要

一种LED多角度光学测试装置及测试方法，涉及光学测试领域，包括三轴调节样品台、CCD光学显微镜、探针、光纤探头、光纤探头旋转驱动装置、光纤探头三轴调节装置、Y型光纤、定位激光导入端、定位用半导体激光器模组、光学测试仪器；三轴调节样品台用于放置待测试的样品LED芯片；CCD光学显微镜安装在三轴调节样品台的正上方；探针为LED芯片供电；光纤探头旋转驱动装置用于旋转光纤探头；光纤探头三轴调节装置用于调节光纤探头旋转驱动装置的位置；Y型光纤的合并端与光纤探头连接，Y型光纤的一个分叉端与定位激光导入端连接，定位用半导体激光器模组通过定位激光导入端将定位激光耦合导入光纤探头；Y型光纤的另一个分叉端与光学测试仪器连接。

主权项

1.一种LED多角度光学测试装置，其特征在于：包括三轴调节样品台、CCD光学显微镜、探针、探针座、光纤探头、光纤探头旋转驱动装置、光纤探头三轴调节装置、Y型光纤、定位激光导入端、定位用半导体激光器模组、光学测试仪器和计算机；/n所述三轴调节样品台用于放置待测试的样品LED芯片，三轴调节样品台可在XYZ三轴方向移动；/n所述CCD光学显微镜安装在三轴调节样品台的正上方，CCD光学显微镜用于放大观察微型LED芯片表面，以找到LED芯片的电极；/n所述探针安装于探针座上，探针用于扎到LED芯片的电极上作为电流输入端为LED芯片供电；/n所述光纤探头通过连接杆与光纤探头旋转驱动装置固定连接，所述光纤探头旋转驱动装置垂直安装于光纤探头三轴调节装置的顶端，光纤探头旋转驱动装置用于在LED芯片多角度出光性能测试中旋转光纤探头，以收集LED芯片不同角度的出射光；所述光纤探头三轴调节装置可在XYZ三轴方向移动，用于调节光纤探头旋转驱动装置的位置；/n所述Y型光纤的合并端与光纤探头连接，Y型光纤的一个分叉端与定位激光导入端连接，所述定位用半导体激光器模组与定位激光导入端相对设置，定位用半导体激光器模组用作LED芯片的定位光源，通过定位激光导入端将定位激光耦合导入光纤探头，照射在LED芯片上；Y型光纤的另一个分叉端作为LED芯片的出光收集端与光学测试仪器连接，光学测试仪器连接计算机，所述光学测试仪器和计算机分别用于光学参数测试和数据采集分析。/n