[发明专利]一种晶圆的保护结构及保护方法在审

专利信息
申请号: 201911053753.8 申请日: 2019-10-31
公开(公告)号: CN110783264A 公开(公告)日: 2020-02-11
发明(设计)人: 邓朋;徐猛;罗辉 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768
代理公司: 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 杨华
地址: 430074 湖北省武汉市洪山区东*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供了一种晶圆的保护结构及保护方法,包括:提供待保护晶圆,晶圆包括多个芯片单元,芯片单元在晶圆的第一表面设置有多个金属衬垫,晶圆的第二表面具有多个通孔,第二表面和第一表面相对设置,通孔与金属衬垫对应设置,且通孔暴露出金属衬垫朝向第二表面一侧的表面;在晶圆的第二表面上形成隔绝膜,隔绝膜至少覆盖在金属衬垫朝向第二表面一侧的表面。在形成暴露出金属衬垫的通孔之后,在形成金属布线层之前,在晶圆的第二表面上形成隔绝膜,由于隔绝膜可以将金属衬垫与环境中的强腐蚀性离子和水隔绝,因此,可以避免金属衬垫被环境中的强腐蚀性离子和水腐蚀,从而消除或减少了金属衬垫中的晶体缺陷,进而可以提升晶圆的良率和可靠性。
搜索关键词: 金属衬垫 晶圆 第二表面 隔绝膜 通孔 第一表面 强腐蚀性 芯片单元 离子 金属布线层 保护结构 晶体缺陷 相对设置 水腐蚀 暴露 良率 种晶 覆盖
【主权项】:
1.一种晶圆的保护方法,其特征在于,包括:/n提供待保护晶圆,所述晶圆包括多个芯片单元,所述芯片单元在所述晶圆的第一表面设置有多个金属衬垫,所述晶圆的第二表面具有多个通孔,所述第二表面和所述第一表面相对设置,所述通孔与所述金属衬垫对应设置,且所述通孔暴露出所述金属衬垫朝向所述第二表面一侧的表面;/n在所述晶圆的第二表面上形成隔绝膜,所述隔绝膜至少覆盖在所述金属衬垫朝向所述第二表面一侧的表面。/n
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