[发明专利]一种基于磨抛工艺的高精度光纤连接结构的制备方法有效

专利信息
申请号: 201911049105.5 申请日: 2019-10-31
公开(公告)号: CN110727053B 公开(公告)日: 2020-07-14
发明(设计)人: 詹萍萍;陈春霞;丁鹏;李冰;陈俊宇;秦友凤 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十四研究所
主分类号: G02B6/25 分类号: G02B6/25;G02B6/38
代理公司: 重庆辉腾律师事务所 50215 代理人: 王海军
地址: 400060 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明涉及光纤延迟线的高精度延时控制领域,特别涉及一种基于磨抛工艺的高精度光纤延时调节方法,包括将光纤去除涂覆层后用环氧树脂胶固定在陶瓷插芯里,对光纤的延时调节包括利用光频域反射技术对光纤长度进行检测,并对光纤进行定长研磨;对达到延时标准的光纤的端面进行抛光处理,并用端面检测仪检测端面质量;对满足端面质量的光纤的陶瓷插针在陶瓷套筒中进行对接,并用胶水进行固定;本发明利用磨抛工艺对光纤长度进行高精度调节,改变了传统剪切熔接方法精度低、灵活性差的情况,能够在0.1mm精度的量级对延时光纤的长度进行调节,加工简单灵活,并能够按照系统的实际要求多次调节光纤延时,提高了光纤延迟系统的工艺控制水平。
搜索关键词: 一种 基于 工艺 高精度 光纤 连接 结构 制备 方法
【主权项】:
1.一种基于磨抛工艺的高精度光纤延时调节方法,包括陶瓷插芯和陶瓷套筒,其特征在于,将光纤去除涂覆层后用环氧树脂胶固定在陶瓷插芯里,对光纤的延时调节包括以下步骤:/nS1、测量原光纤链路的长度,并通过矢量网络测试仪测量发射端到接收端的光纤延时;/nS2、根据实际需要确定光纤截取长度;/nS3、对光纤的调节端进行加工;/nS4、测量截取后光纤链路长度;/nS5、根据需要的延时标准计算研磨长度;/nS6、利用光频域反射技术OFDR技术对光纤长度进行检测,并对光纤进行定长研磨;/nS7、对光纤端面进行延时测量,判断是否达到标准,若不达标准则返回步骤S5根据延时标准计算研磨长度,否则对光纤对面进行抛光处理,并用端面检测仪检测端面质量;/nS8、对满足端面质量的光纤的陶瓷插针在陶瓷套筒中进行对接,并用胶水进行固定。/n
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