[发明专利]一种数据校验方法、装置、存储介质及电子设备在审
| 申请号： | 201911001880.3 | 申请日： | 2019-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN110766160A | 公开（公告）日： | 2020-02-07 |
| 发明（设计）人： | 蒙超;邹明 | 申请（专利权）人： | 北京明略软件系统有限公司 |
| 主分类号： | G06N5/02 | 分类号： | G06N5/02 |
| 代理公司： | 11646 北京超成律师事务所 | 代理人： | 孔默 |
| 地址： | 100000 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提出一种数据校验方法、装置、存储介质及电子设备。通过场景参数确定目标校验规则，依据目标校验规则对待校验数据进行校验，生成校验结果，以获知待校验数据满足或不满足目标校验规则。减少了人工将大量的校验数据分类的步骤，节省了人力，同时提升了校验速度，提升了校验效率。 | ||
| 搜索关键词： | 校验规则 校验数据 校验 场景参数 存储介质 电子设备 数据校验 校验结果 获知 分类 申请 | ||
【主权项】：
1.一种数据校验方法，其特征在于，所述方法包括：/n当获得的待校验数据携带场景参数时，依据所述场景参数确定目标校验规则，其中，所述场景参数表征所述待校验数据的种类，不同的所述种类分别对应不同的所述校验规则；/n依据所述目标校验规则对所述待校验数据进行校验；/n生成校验结果，其中，所述校验结果包括所述待校验数据满足或不满足所述目标校验规则。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京明略软件系统有限公司，未经北京明略软件系统有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911001880.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
