[发明专利]制造检测具有改进的封装结构的电磁辐射的装置的方法在审
申请号: | 201910973226.2 | 申请日: | 2019-10-14 |
公开(公告)号: | CN111044158A | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
发明(设计)人: | 让-雅克·约恩;若弗鲁瓦·迪蒙 | 申请(专利权)人: | 原子能和替代能源委员会 |
主分类号: | G01J5/24 | 分类号: | G01J5/24;G01J5/34 |
代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 谢攀;刘继富 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种制造用于检测电磁辐射的装置的方法,该装置包括:封装结构(20)和密封层(24),该封装结构包括其上放置有凸起(23)的封装层(21),该密封层在凸起(23)处在连续体中具有局部断裂。 | ||
搜索关键词: | 制造 检测 具有 改进 封装 结构 电磁辐射 装置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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