[发明专利]制造检测具有改进的封装结构的电磁辐射的装置的方法在审

专利信息
申请号: 201910973226.2 申请日: 2019-10-14
公开(公告)号: CN111044158A 公开(公告)日: 2020-04-21
发明(设计)人: 让-雅克·约恩;若弗鲁瓦·迪蒙 申请(专利权)人: 原子能和替代能源委员会
主分类号: G01J5/24 分类号: G01J5/24;G01J5/34
代理公司: 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 代理人: 谢攀;刘继富
地址: 法国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种制造用于检测电磁辐射的装置的方法,该装置包括:封装结构(20)和密封层(24),该封装结构包括其上放置有凸起(23)的封装层(21),该密封层在凸起(23)处在连续体中具有局部断裂。
搜索关键词: 制造 检测 具有 改进 封装 结构 电磁辐射 装置 方法
【主权项】:
暂无信息
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