[发明专利]一种基于双能X射线的图像识别处理方法及控制系统在审
申请号: | 201910955817.7 | 申请日: | 2019-10-09 |
公开(公告)号: | CN110672649A | 公开(公告)日: | 2020-01-10 |
发明(设计)人: | 徐道际;王斌;肖杰 | 申请(专利权)人: | 安徽宏实光机电高科有限公司 |
主分类号: | G01N23/227 | 分类号: | G01N23/227 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 230000 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及矿选领域,公开了一种基于双能X射线的图像识别处理方法,包括:将矿石通过输送装置输至双能X射线扫描辐射区域,得到高能投影数据图和低能投影数据图图;对高能投影数据图和低能投影数据图进行双能分解,得到矿石分解系数,利用最小二乘法对矿石分解系数进行拟合获得极小值点,利用极小值点获得极小值;将该基材料分解系数作为初值,计算被检查物体的每个像素的等效原子序数和电子密度;根据每个像素的等效原子序数和电子密度,计算光电效应所对应的质量衰减系数,利用光电效应所对应的质量衰减系数;根据质量衰减系数计算得到、等效原子序数和电子密度得到矿石的分布图,可以有效的进行矿选,矿选效果高,矿选效果佳。 | ||
搜索关键词: | 矿选 等效原子序数 质量衰减系数 低能投影数据 高能投影数据 光电效应 矿石分解 像素 矿石 分解 最小二乘法 辐射区域 输送装置 图像识别 分布图 基材料 拟合 检查 | ||
【主权项】:
1.一种基于双能X射线的图像识别处理方法,其特征在于,包括:/nS1、将矿石通过输送装置输至双能X射线扫描辐射区域,得到高能投影数据图和低能投影数据图图;/nS2、对所述高能投影数据图和低能投影数据图进行双能分解,得到矿石分解系数,利用最小二乘法对所述矿石分解系数进行拟合获得极小值点,利用极小值点获得极小值;/nS3、将该基材料分解系数作为初值,计算被检查物体的每个像素的等效原子序数和电子密度;/nS4、根据每个像素的等效原子序数和电子密度,计算光电效应所对应的质量衰减系数,利用光电效应所对应的质量衰减系数;/nS5、根据所述质量衰减系数计算得到、等效原子序数和电子密度得到矿石的分布图。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安徽宏实光机电高科有限公司,未经安徽宏实光机电高科有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910955817.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。