[发明专利]电子装置天线性能测试方法、电子装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 201910943880.9 申请日: 2019-09-30
公开(公告)号: CN110649979B 公开(公告)日: 2022-04-01
发明(设计)人: 喻继承 申请(专利权)人: 东莞市欧珀精密电子有限公司
主分类号: H04B17/10 分类号: H04B17/10;H04B17/15;H04B17/29
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 唐双
地址: 523863 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开了一种电子装置天线性能测试的方法,其包括:多部电子装置接收工模指令连接第一预设网络,并通过预设网络分别接收不同的配置文件;多部所述电子装置各自根据所接收的所述配置文件连接屏蔽箱内的第二预设网络,并形成不同的IP地址;多部所述电子装置通过所述第二预设网络依次向仪表发射第一信号完成发射功率测试;多部所述电子装置同时接收仪表下发的第二信号完成接收功率测试。采用以上方法,采用一套设备可以对多部电子装置同时进行检测,大大提高了检测的效率。本申请还提供一种电子装置、终端设备以及存储介质。
搜索关键词: 电子 装置 天线 性能 测试 方法 设备 存储 介质
【主权项】:
1.一种电子装置天线性能测试的方法,其特征在于,包括:/n多部电子装置接收工模指令连接第一预设网络,并通过预设网络分别接收不同的配置文件;/n多部所述电子装置各自根据所接收的所述配置文件连接屏蔽箱内的第二预设网络,并形成不同的IP地址;/n多部所述电子装置通过所述第二预设网络依次向仪表发射第一信号完成发射功率测试;/n多部所述电子装置同时接收仪表下发的第二信号完成接收功率测试。/n
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