[发明专利]电子装置天线性能测试方法、电子装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种电子装置天线性能测试的方法，其特征在于，包括：

多部电子装置接收工模指令连接第一预设网络，并通过所述第一预设网络分别接收不同的配置文件；其中，所述多部电子装置位于屏蔽箱中，所述屏蔽箱中设置多个天线板，每个所述天线板的方位不同；

多部所述电子装置各自根据所接收的所述配置文件连接所述屏蔽箱内的第二预设网络，并形成不同的IP地址；

多部所述电子装置通过所述第二预设网络依次向仪表发射第一信号完成发射功率测试；其中，每部所述电子装置发射第一信号，并同时分别由多个所述天线板将所述第一信号发送至所述仪表，每部所述电子装置发射第一信号时，剩余所述电子装置处于不发射状态；

多部所述电子装置同时接收所述仪表下发的第二信号完成接收功率测试，其中，多部所述电子装置同时接收同一个天线板发射的第二信号，直至接收完所有天线板发射的第二信号，每部所述电子装置通过加权计算由所述天线板发来的第二信号形成接收测试结果。

2.根据权利要求1所述的电子装置天线性能测试的方法，其特征在于，所述多部所述电子装置同时接收仪表下发的第二信号完成接收功率测试的步骤之前还包括：

所述多部电子装置全部完成初始化。

3.根据权利要求1-2任一项所述的电子装置天线性能测试的方法，其特征在于，所述多部电子装置的数量为4。

4.一种电子装置，其特征在于，包括：

第一接收模块，用于接收工模指令连接第一预设网络，并通过预设网络接收配置文件；其中，多部所述电子装置位于屏蔽箱中并通过所述预设网络分别接收不同的配置文件，所述屏蔽箱中设置多个天线板，每个所述天线板的方位不同；

连接模块，用于根据所接收的所述配置文件连接所述屏蔽箱内的第二预设网络，并形成IP地址，其中，多部所述电子装置形成的IP地址不同；

发射模块，用于通过所述第二预设网络向仪表发射第一信号完成发射功率测试；其中，所述电子装置发射第一信号时，同时分别由多个所述天线板将所述第一信号发送至所述仪表，且多部所述电子装置中剩余的所述电子装置处于不发射状态；

第二接收模块，用于同时接收仪表下发的第二信号完成接收功率测试，其中，多部所述电子装置同时接收同一个天线板发射的第二信号，直至接收完所有天线板发射的第二信号，每部所述电子装置通过加权计算由所述天线板发来的第二信号形成接收测试结果。

5.根据权利要求4所述的电子装置，其特征在于，还包括：

初始化模块，用于完成初始化。

6.一种终端设备，其特征在于，包括：

接口、处理器、存储器以及存储在所述存储器上的计算机程序，所述接口与所述处理器连接，所述处理器耦合所述存储器，所述处理器在工作时执行所述计算机程序以实现如权利要求1～3任一项所述的方法。

7.一种存储介质，其特征在于，存储有程序数据，所述程序数据被执行时实现如权利要求1～3任一项所述的方法。