[发明专利]一种测试方法、电子设备和计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 201910911918.4 | 申请日： | 2019-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN110659171A | 公开（公告）日： | 2020-01-07 |
| 发明（设计）人： | 孙一心 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 史翠 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种测试方法、一种电子设备和一种计算机可读存储介质，该方法包括：利用带外控制脚本设置待测试器件的每个目标参数；其中，所述待测试器件为使用PCIe接口的器件，所述目标参数包括影响信号完整性的参数；利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本，以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测；在进行带内压测过程中，利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数，并基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值。由此可见，本申请提供的测试方法，通过无人值守的方式确定PCIe接口的最优参数，提高测试效率的同时，提高了PCIe接口通信的稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 待测试器件 内压 控制脚本 目标参数 脚本 计算机可读存储介质 测试 测试效率 电子设备 方式确定 无人值守 影响信号 最优参数 可修复 申请 监测 通信 | ||
【主权项】：
1.一种测试方法，其特征在于，包括：/n利用带外控制脚本设置待测试器件的每个目标参数；其中，所述待测试器件为使用PCIe接口的器件，所述目标参数包括影响信号完整性的参数；/n利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本，以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测；/n在进行带内压测过程中，利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数，并基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值。/n
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