[发明专利]基于单色X射线衍射的单晶应力张量测量方法

摘要

本发明公开了一种基于单色X射线衍射的单晶应力张量测量方法，方法包括以下步骤：建立样品坐标系，基于X射线衍射测量衍射峰的位置与布拉格角2θ1，2θ2...2θn，衍射峰对应的晶面法线方向在所述样品坐标系以单位向量形式表示，基于单晶的实际晶格参数a、b、c、α、β、γ构建坐标转换矩阵M，求解方程组得到实际晶格参数a、b、c、α、β、γ，基于单晶的理论晶格参数为a0、b0、c0、α0、β0、γ0，构建并求解理论坐标转换矩阵M0构造晶体学直角坐标系转到样品坐标系的旋转矩阵R，计算样品坐标系下的应变张量ε，基于单晶的应变张量ε和弹性模量计算其应力张量σ。

主权项

1.一种基于单色X射线衍射的单晶应力张量测量方法，所述方法包括以下步骤：/n第一步骤(S1)中，建立样品坐标系，将X射线衍射测量的衍射峰对应的晶面法线方向在所述样品坐标系以单位向量形式表示，记为