[发明专利]基于激光散射技术的炸药晶体内部缺陷定量表征方法有效
| 申请号： | 201910871736.9 | 申请日： | 2019-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN110487815B | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 徐金江;孙杰;田勇;郑敏侠;张浩斌;李洁 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院化工材料研究所 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N15/02 |
| 代理公司： | 四川省成都市天策商标专利事务所(有限合伙) 51213 | 代理人： | 刘兴亮 |
| 地址： | 621000*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于激光散射技术的炸药晶体内部缺陷定量表征方法，包括以下步骤：(1)测试确定炸药晶体主要显露晶面的折射率；(2)根据炸药晶体不同晶面折射率大小，分别配制具有相同折射率的折光匹配液；(3)以折光匹配液为分散介质，利用激光粒度仪在线表征炸药的颗粒度分布；(4)将在不同匹配液中获得的炸药颗粒信息进行加权平均，从而定量获取炸药晶体内部缺陷尺寸大小分布情况。本发明将折光匹配原理与激光散射技术相结合，具有操作简便、实用型强的特点，可为含能材料晶体品质表征及评价提供新的技术手段。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 激光 散射 技术 炸药 晶体 内部 缺陷 定量 表征 方法 | ||
【主权项】：
1.基于激光散射技术的炸药晶体内部缺陷定量表征方法，其特征在于，包括以下步骤：/n步骤A：测试确定炸药晶体不同晶面的折射率；/n步骤B：根据炸药晶体不同晶面的折射率的大小，选择两种不同折射率液体按一定比例进行混合配制，分别配制与炸药晶体不同晶面具有相同的折射率的折光匹配液；/n步骤C：以配制的折光匹配液为分散介质，利用激光粒度仪在线表征炸药晶体的颗粒度分布情况；/n步骤D：通过与炸药晶体的表观颗粒度分布情况对比，将不同匹配液测试获得的炸药晶体颗粒信息进行数据拟合，确认炸药晶体内部的缺陷结构大小，从而获取炸药晶体内部缺陷的定量分布信息。/n
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