[发明专利]微腐蚀服役环境下纯银触点材料可靠性的预测方法在审
申请号: | 201910868838.5 | 申请日: | 2019-09-16 |
公开(公告)号: | CN110763615A | 公开(公告)日: | 2020-02-07 |
发明(设计)人: | 易亚文;李志祥;朱海;邓勇;王涛;陈自然;张其俊;杨阳;陈川;揭敢新;王俊 | 申请(专利权)人: | 中国长江电力股份有限公司 |
主分类号: | G01N17/00 | 分类号: | G01N17/00;G01N27/04 |
代理公司: | 44104 广州知友专利商标代理有限公司 | 代理人: | 宣国华;何秋林 |
地址: | 100038 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种微腐蚀服役环境下纯银触点材料可靠性的预测方法,该方法步骤如下:通过现场暴露试验,确定纯银触点材料样品腐蚀产物膜厚与腐蚀时间和静态接触电阻之间的关系,根据该关系预测纯银触点材料失效现象的出现时间。本发明采用腐蚀产物膜厚作为指标能灵敏反应样品不同程度的腐蚀状况,只需通过较短周期的现场暴露试验确定腐蚀产物膜厚与腐蚀时间和静态接触电阻之间的关系,即可根据达到失效状态时的电阻增量,准确预测出现失效现象的暴露时间,本发明方法解决了现有方法周期长、准确率不高的问题。 | ||
搜索关键词: | 腐蚀产物膜 纯银触点 腐蚀 暴露试验 静态接触 失效现象 电阻 预测 材料样品 电阻增量 反应样品 服役环境 失效状态 短周期 准确率 灵敏 暴露 | ||
【主权项】:
1.一种微腐蚀服役环境下纯银触点材料可靠性的预测方法,其特征在于,该方法步骤如下:/n通过现场暴露试验,确定纯银触点材料样品腐蚀产物膜厚与腐蚀时间和静态接触电阻之间的关系,根据该关系预测纯银触点材料失效现象的出现时间。/n
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