[发明专利]微腐蚀服役环境下纯银触点材料可靠性的预测方法

权利要求书

1.一种微腐蚀服役环境下纯银触点材料可靠性的预测方法，其特征在于，该方法步骤如下：

通过现场暴露试验，确定纯银触点材料样品腐蚀产物膜厚与腐蚀时间和静态接触电阻之间的关系，根据该关系预测纯银触点材料失效现象的出现时间。

2.根据权利要求1所述的预测方法，其特征在于，所述根据该关系预测纯银触点材料失效现象的出现时间，具体是指，根据纯银触点材料电接触失效时静态接触电阻增量指标，预测纯银触点材料失效现象的出现时间。

3.根据权利要求2所述的预测方法，其特征在于，其具体步骤如下：

S1)选用与现场使用的纯银触点材料完全相同的纯银材料进行制样处理；

S2)样品现场放置前，分别对每个样品的初始静态接触电阻Rc进行测量；

S3)在核心区域放置样品，让样品分别经历i个不同周期，每个周期至少一个样品，n≥4，i∈{1,2，…,n}；

S4)现场暴露试验结束后，测量每个样品的静态接触电阻得到R’ci，R’ci表示经历相应周期暴露试验的样品的静态接触电阻平均值；

S5)测量每个样品的腐蚀产物膜厚得到ti，ti表示经历相应周期暴露试验的样品的腐蚀产物膜厚平均值；

S6)建立腐蚀产物膜厚t与试验周期T对应的函数关系，相关系数需达0.95以上；

S7)将不同试验周期前后样品的静态接触电阻差值ΔRci＝(R’ci-Rci)与对应周期的腐蚀产物膜厚的结果进行拟合分析，建立静态电阻差值与腐蚀产物膜厚之间的对应关系，相关系数需达0.95以上，Rci表示经历i个周期暴露试验的样品初始静态接触电阻平均值；

S8)确定纯银触点材料电接触失效时的静态接触电阻增量指标，结合步骤S6)和步骤S7)确定的函数关系，通过推算纯银触点材料的静态接触电阻值增量达到所述指标时对应的腐蚀产物膜厚，以此推算出达到该程度所需的现场暴露时间，即此后纯银触点材料将进入失效模式，即无法安全可靠使用。

4.根据权利要求3所述的预测方法，其特征在于，步骤1)中制样处理指：将样品制成薄板状，此外还需对样品表面进行研磨以使样品表面光滑平整，并用丙酮试剂擦洗，随后浸入异丙醇试剂中数秒，捞出，吹干，真空密封保存，或惰性气体氛围下保存。

5.根据权利要求4所述的预测方法，其特征在于，薄板状样品的尺寸：长度为50～90mm，宽度为10～12mm，厚度为0.5～1mm。

6.根据权利要求3所述的预测方法，其特征在于，步骤S2)中所述静态接触电阻采用四点法进行测量。

7.根据权利要求3所述的预测方法，其特征在于，步骤S3)中每个周期为30天。

8.根据权利要求3所述的预测方法，其特征在于，步骤S3)中，所述样品通过固定在固定架上被放置，所述固定架整体由塑料制成，包括螺母，套筒，螺钉和挡板一、二，挡板一、样品、挡板二通过其两端开孔依次套装在左、右螺钉上，且相邻之间通过同样套装在左、右螺钉上的套筒隔开，所述螺母套装在所述螺钉上以使结构紧固，所述挡板一、二的长、宽均大于所述样品。

9.根据权利要求3所述的预测方法，其特征在于，步骤S5)中所述腐蚀产物膜厚采用库伦恒电流还原法测得。