[发明专利]星载微波辐射测量系统及测量方法在审
申请号: | 201910861629.8 | 申请日: | 2019-09-11 |
公开(公告)号: | CN110554440A | 公开(公告)日: | 2019-12-10 |
发明(设计)人: | 赵锋;赵永涛;陈雄;姚崇斌;徐红新;张喆;李丹;王平凯;李秀伟 | 申请(专利权)人: | 上海航天测控通信研究所 |
主分类号: | G01V3/12 | 分类号: | G01V3/12 |
代理公司: | 31236 上海汉声知识产权代理有限公司 | 代理人: | 胡晶 |
地址: | 201109 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种星载微波辐射测量系统及测量方法,采用一维综合孔径微波辐射探测技术,将三个探测频段分为三排线性馈源阵列排布,结合21块高精度固面拼接技术,降低了大口径高精度可展开天线的加工难度,实现了反射面体积、重量、精度的最优折中。采用新型加权傅里叶变换图像重构算法计算机对可视度函数进行处理,提高了运算效率,减小计算复杂度,校正系统误差。在卫星飞行方向上采用实孔径、交轨方向上采用一维综合孔径的探测方式,实现了高精度、高分辨率探测,同时避免了传统实孔径辐射探测需要的大口径天线扫描困难和二维综合孔径探测的高系统复杂度要求。 | ||
搜索关键词: | 探测 微波辐射 综合孔径 加权傅里叶变换 图像重构算法 校正系统误差 大口径天线 计算复杂度 可展开天线 系统复杂度 测量系统 二维综合 飞行方向 高分辨率 孔径辐射 馈源阵列 探测技术 探测频段 运算效率 大口径 反射面 可视度 固面 减小 排布 三排 星载 拼接 测量 扫描 卫星 计算机 加工 | ||
【主权项】:
1.一种星载微波辐射测量系统,其特征在于,包括:/n大口径抛物柱面天线,用于反射目标场景的微波辐射信号;/n3排不同频段的双极化一维稀疏馈源阵列,用于同时接收由所述大口径抛物柱面天线反射的目标场景微波辐射信号,并将接收的目标场景微波辐射信号发送至接收机通道阵列;/n接收机通道阵列,用于将所述目标场景微波辐射信号放大、滤波、下变频后分为两路信号,其中一路信号传输至高速AD采集器,其中另一路信号传输至平方率检波器;/nAD采集器,用于将从所述接收机通道阵列接收到的信号采样后,传输至复相关处理器;/n复相关处理器,用于将从所述AD采集器接收到的信号两两进行复相关处理,以得到复相关系数;/n平方率检波器,用于将从所述接收机通道阵列接收到的信号检波后,传输至预处理器;/n预处理器,用于将从所述平方率检波器接收到的信号进行采样,以得到信号功率值;/n中央处理器,用于将所复相关系数和信号功率值进行反归一化处理,得到可见度函数采样值,再将所述可见度函数采样值打包发至地面的计算机;/n计算机,用于将所述可见度函数采样值通过预设加权傅里叶变换图像重构算法的处理后,得到目标场景的亮温图像。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海航天测控通信研究所,未经上海航天测控通信研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910861629.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。