[发明专利]一种高分辨大量程时域测量装置在审
| 申请号： | 201910839985.X | 申请日： | 2019-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN110686784A | 公开（公告）日： | 2020-01-14 |
| 发明（设计）人： | 朱健强;潘良泽;张雪洁;刘诚;欧阳小平 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 31317 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种高分辨大量程时间特性测量装置，包括第一耦合镜、第二耦合镜、第一相关镜、扫描脉冲、第三耦合镜、第四耦合镜、光程延迟级联单元、第一反射镜、第二反射镜、第二相关镜、互相关晶体、衍射元件、光电探测器和信号分析单元。本发明可以在≥10个时间窗口内按时间顺序依次产生扫描脉冲，扫描脉冲的总时间窗口设计为≥1.5ns。同时分离被测脉冲中的光谱成分，并通过光谱相位的恢复算法实现被测脉冲的时间相位分析，提供更加全面准确的测量结果。 | ||
| 搜索关键词： | 耦合镜 扫描脉冲 时间窗口 反射镜 脉冲 信号分析单元 光电探测器 测量装置 光谱相位 时间顺序 时间特性 时间相位 算法实现 衍射元件 大量程 高分辨 互相关 延迟级 光程 光谱 恢复 分析 | ||
【主权项】：
1.一种高分辨大量程时间特性测量装置，其特征在于，包括第一耦合镜(2)、第二耦合镜(3)、第一相关镜(4)、扫描脉冲(5)、第三耦合镜(6)、第四耦合镜(7)、光程延迟级联单元(8)、第一反射镜(9)、第二反射镜(10)、第二相关镜(11)、互相关晶体(12)、衍射元件(13)、光电探测器(14)和信号分析单元(15)；/n被测脉冲(1)依次经所述的第一耦合镜(2)、第二耦合镜(3)、第一相关镜(4)，倾斜入射到所述的互相关晶体(12)上；/n扫描脉冲(5)依次经所述的第三耦合镜(6)和第四耦合镜(7)，射入光程延迟级联单元(8)，然后依次经过所述的第一反射镜(9)、第二反射镜(10)、第二相关镜(11)后，倾斜入射到所述的互相关晶体(12)上；/n所述的被测脉冲(1)和扫描脉冲(5)在互相关晶体(12)上相互作用，产生的互相关信号经过衍射元件(13)后，由光电探测器(14)接收，然后经由信号分析单元(15)得到测量结果。/n
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