[发明专利]一种高精度SAR ADC结构及校准方法有效
| 申请号： | 201910834219.4 | 申请日： | 2019-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN110401449B | 公开（公告）日： | 2022-03-08 |
| 发明（设计）人： | 王量弘;白黎明;赖华玲;江浩 | 申请（专利权）人： | 福州大学 |
| 主分类号： | H03M1/38 | 分类号： | H03M1/38;H03M1/10 |
| 代理公司： | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人： | 钱莉;蔡学俊 |
| 地址： | 350108 福建省福州市*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种高精度SAR ADC（逐次逼近模数转换器）结构及校准方法，包括采样保持电路、主DAC（数模转换器）、桥接电容校准模块、校准DAC（数模转换器）、比较器、数字校准和逻辑控制模块；所述桥接电容校准模块受数字校准和逻辑控制模块的控制对主DAC进行桥接电容校准；所述校准DAC受数字校准和逻辑控制模块的控制对主DAC进行电容失配校准。本发明的结构不需要复杂的校准电路，不影响SAR ADC的正常量化过程，随时都可以开启校准，校准时不需要额外的输入信号，可广泛应用于电容阵列型SAR ADC。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高精度 sar adc 结构 校准 方法 | ||
【主权项】：
1.一种高精度SAR ADC结构，其特征在于，包括采样保持电路、主DAC、桥接电容校准模块、校准DAC、比较器、数字校准和逻辑控制模块；输入信号依次经采样保持电路、主DAC连接至比较器，所述数字校准和逻辑控制模块分别与主DAC、桥接电容校准模块、校准DAC以及比较器电性相连；所述桥接电容校准模块受数字校准和逻辑控制模块的控制对主DAC进行桥接电容校准；所述校准DAC受数字校准和逻辑控制模块的控制对主DAC进行电容失配校准。
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