[发明专利]测试结构和测试方法有效
| 申请号： | 201910819101.4 | 申请日： | 2019-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN112447257B | 公开（公告）日： | 2022-10-14 |
| 发明（设计）人： | 何世坤;杨晓蕾;王明 | 申请（专利权）人： | 中电海康集团有限公司;浙江驰拓科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 董文倩 |
| 地址： | 311121 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种测试结构和测试方法，用于测试包括多个阻变器件的存储阵列。该测试结构包括：存储阵列，包括多个阻变器件，各阻变器件包括至少一个磁性层；第一导电层，与至少部分阻变器件接触设置，第一导电层的长度延伸方向为第一方向，第一方向与阻变器件的厚度方向垂直；第二导电层，与第一导电层电连接，第二导电层的延伸方向为第二方向，第二方向与第一方向之间垂直，且第二方向与阻变器件的厚度方向垂直。该测试结构对包括多个阻变器件的存储阵列进行测试，避免对多个阻变器件逐个进行测试，大大缩短了测试时间，从而解决了现有技术中的获取翻转磁场、翻转电流或者翻转电压的分布曲线所需要的时间较长的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 结构 方法 | ||
【主权项】：
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