[发明专利]一种电子器件性能退化趋势的预测方法有效
| 申请号： | 201910812431.0 | 申请日： | 2019-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN110633516B | 公开（公告）日： | 2022-06-14 |
| 发明（设计）人： | 刘震;梅文娟;杜立;程玉华;黄建国;白利兵 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G06F30/367 | 分类号： | G06F30/367 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 温利平 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种电子器件性能退化趋势的预测方法，通过离线建立初始相关熵极限学习机的预测模型，并对动态动态相关熵极限学习机在线更新，构建与奇异值相结合的编码本机制，进而来识别历史数据中的奇异值，从而克服数据中噪声和奇异值对预测模型的影响，提升预测模型的最终预测效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子器件 性能 退化 趋势 预测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种电子器件性能退化趋势的预测方法，其特征在于，包括以下步骤：/n(1)、离线建立初始相关熵极限学习机的预测模型/n(1.1)、获取被测电子器件的历史数据{x
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学，未经电子科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910812431.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
