[发明专利]一种荧光寿命显微镜中系统冲激响应估计方法有效

专利信息
申请号: 201910805825.3 申请日: 2019-08-29
公开(公告)号: CN110501624A 公开(公告)日: 2019-11-26
发明(设计)人: 庄钊文;于红旗;陈绍荣;梁玲亮;谭小波;黎灿 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科技大学
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 43102 湖南省国防科技工业局专利中心 代理人: 冯青<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 410073 *** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明涉及一种荧光寿命显微镜中系统冲激响应估计方法。本方法建立系统模型,根据扩展卡尔曼滤波器算法,建立系统的状态方程和观测方程,并给出了预测协方差和估计协方差公式,当预测协方差小于预定值时,即可估计出系统的冲击响应。优点在于:估计在系统实验中直接进行,不需要额外测量。传统的方法是事先通过专用方法对IRF进行测量,本算法不需要专门的测量,从每次试验得到的数据中可自动估算出IRF。有效避免各种因素造成的IRF变化。本方法在系统每次测量中获得IRF,有效避免各种因素对IRF造成的影响。
搜索关键词: 协方差 测量 建立系统 算法 扩展卡尔曼滤波器 冲击响应 冲激响应 观测方程 系统实验 荧光寿命 预定值时 状态方程 传统的 预测 显微镜 估算 试验
【主权项】:
1.一种荧光寿命显微镜中系统冲激响应估计方法,基于雪崩二极管阵列像元模型,建立系统模型,根据扩展卡尔曼滤波器算法,建立系统的状态方程和观测方程,并给出预测协方差和估计协方差公式,当预测协方差小于预定值时,即估计出系统的冲击响应,其特征在于,具体步骤如下:/n步骤1:分配Vc,VQ和Ω[0|0]的初始值;设置k=1;/n步骤2:使用公式/n 获得状态转移矩阵F[k-1];/n步骤3:使用公式和/nΩ[k|k-1]=F[k-1]Ω[k-1|k-1]FT[k-1]+VQ(17)分别计算预测状态向量和预测协方差Ω[k|k-1];/n步骤4:使用公式/nG[k]=Ω[k|k-1]BT[k](VC+B[k]Ω[k|k-1]BT[k])-1, (21)/n /n /n /n获得卡尔曼增益G[k];/n步骤5:使用公式/n 和/nΩ[k|k]=(I-G[k]B[k])Ω[k|k-1].(25)分别输入观察值yk并计算估计的状态向量和估计的协方差Ω[k|k];/n步骤6:如果Ω[k|k]仍然大于用户设置的阈值,则k=k+1,然后转到步骤2,否则输出结果。/n
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