[发明专利]一种检测内存缺陷的USB烧录系统和USB烧录方法在审
申请号: | 201910792692.0 | 申请日: | 2019-08-26 |
公开(公告)号: | CN110764787A | 公开(公告)日: | 2020-02-07 |
发明(设计)人: | 吴贻辉;董涛;裴佩;喻志刚 | 申请(专利权)人: | 晶晨半导体(上海)股份有限公司 |
主分类号: | G06F8/61 | 分类号: | G06F8/61 |
代理公司: | 31272 上海申新律师事务所 | 代理人: | 俞涤炯 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中国*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种检测内存缺陷的USB烧录系统和USB烧录方法,其中USB烧录系统应用于嵌入式设备中,嵌入式设备包括第一存储器和第二存储器,其中,包括:第一驱动模块,用于读取烧录数据中的每个第一数据块和与每个第一数据块对应的第一校验值,并计算第一驱动模块读取的每个第一数据块对应的第二校验值,以判断每个第一校验值和与其对应的第二校验值是否一致;第二驱动模块,与第一驱动模块连接,用于根据判断结果读取第一驱动模块读取的所有第一数据块存储至第二存储器中。本发明的有益效果在于:第一时间确定USB烧录中的第一存储器出错,并可以缩小检修的范围,进而降低人工成本。 | ||
搜索关键词: | 驱动模块 读取 第一数据 校验 第二存储器 嵌入式设备 存储器 烧录系统 烧录 内存缺陷 判断结果 人工成本 烧录数据 块存储 种检测 出错 检修 应用 | ||
【主权项】:
1.一种检测内存缺陷的USB烧录系统,应用于嵌入式设备中,所述嵌入式设备包括第一存储器和第二存储器,其特征在于,包括:/n第一驱动模块,用于读取烧录数据中的每个所述第一数据块和与每个所述第一数据块对应的所述第一校验值,并计算所述第一驱动模块读取的每个所述第一数据块对应的第二校验值,以判断每个所述第一校验值和与其对应的所述第二校验值是否一致;/n第二驱动模块,与所述第一驱动模块连接,用于根据判断结果读取所述第一驱动模块读取的所有所述第一数据块存储至所述第二存储器中。/n
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