[发明专利]MCU参数测试系统及方法在审
| 申请号： | 201910784376.9 | 申请日： | 2019-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN110377473A | 公开（公告）日： | 2019-10-25 |
| 发明（设计）人： | 楼鹏;孙万里;罗琼;付艳 | 申请（专利权）人： | 珠海艾派克微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 胡艾青;刘芳 |
| 地址： | 519060 广东省珠海市香洲区广湾街*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种MCU参数测试系统及方法，包括计算单元、控制单元和测试单元，所述计算单元与所述控制单元和所述测试单元均双向通信连接，所述控制单元与目标MCU双向通信连接，所述测试单元与所述目标MCU单向通信连接，其中：计算单元，用于向所述控制单元发出状态配置指令，并响应状态反馈信息向所述测试单元发出测试指令；所述控制单元，用于响应所述状态配置指令对所述目标MCU进行配置，并向所述计算单元发送状态反馈信息；所述测试单元，用于响应所述测试指令对所述目标MCU进行测量，获取参数数据，并将所述参数数据发送给所述计算单元。本发明可以实现对单片机参数的自动测试，提高对单片机参数测量的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 测试单元 计算单元 目标MCU 参数测试系统 双向通信连接 测试指令 状态配置 单片机 发送状态反馈信息 指令 参数数据发 参数测量 参数数据 单向通信 反馈信息 响应状态 自动测试 响应 测量 配置 | ||
【主权项】：
1.一种MCU参数测试系统，其特征在于，包括计算单元、控制单元和测试单元，所述计算单元与所述控制单元和所述测试单元均双向通信连接，所述控制单元与目标MCU双向通信连接，所述测试单元与所述目标MCU单向通信连接；其中，所述计算单元，用于向所述控制单元发出状态配置指令，并响应状态反馈信息向所述测试单元发出测试指令；所述控制单元，用于响应所述状态配置指令对所述目标MCU进行配置，并向所述计算单元发送状态反馈信息；所述测试单元，用于响应所述测试指令对所述目标MCU进行测量，获取参数数据，并将所述参数数据发送给所述计算单元。
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