[发明专利]降低阵列电性测试机静电产生的方法在审
| 申请号： | 201910781320.8 | 申请日： | 2019-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN110596147A | 公开（公告）日： | 2019-12-20 |
| 发明（设计）人： | 张文泽 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/958 | 分类号： | G01N21/958;H05F3/06 |
| 代理公司： | 44300 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) | 代理人： | 黄威 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种降低阵列电性测试机静电产生的方法，所述方法包括：设置支架的上升时间；控制所述支架凸出承载平台；分离玻璃于所述承载平台；移动龙门架于所述玻璃上方；以及控制离子棒吹向所述玻璃。本发明通过增加支架上升时间以及移动龙门架于玻璃上方，使离子棒作用于玻璃的时间增加，从而达到降低静电产生及避免击伤面板的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 支架 玻璃 移动龙门架 承载平台 静电产生 离子棒 电性测试机 凸出 分离玻璃 时间增加 | ||
【主权项】：
1.一种降低阵列电性测试机静电产生的方法，其特征在于，包括：/n移动龙门架于所述玻璃上方；/n控制离子棒吹向所述玻璃；/n设置支架的上升时间；/n控制所述支架凸出承载平台；以及/n分离玻璃于所述承载平台。/n
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