[发明专利]降低阵列电性测试机静电产生的方法

说明书

本发明公开了一种降低阵列电性测试机静电产生的方法，所述方法包括：设置支架的上升时间；控制所述支架凸出承载平台；分离玻璃于所述承载平台；移动龙门架于所述玻璃上方；以及控制离子棒吹向所述玻璃。本发明通过增加支架上升时间以及移动龙门架于玻璃上方，使离子棒作用于玻璃的时间增加，从而达到降低静电产生及避免击伤面板的目的。

技术领域

本发明属于电性测试领域，尤其涉及一种降低阵列电性测试机静电产生的方法。

背景技术

目前由于阵列电性测试机(Array Tester，ATS)测试完成后，以支架上升来分离玻璃时，静电击伤产品的现象频频发生，ATS自身无法拦检，一旦发生静电击伤，只能到成盒制程或模组制程才会发现异常，这个时间差导致反馈发生异常时，已经造成大量的面板报废，严重影响了产品的良率。

因此需要对现有技术中的问题提出解决方法。

发明内容

本发明实施例提供一种降低阵列电性测试机静电产生的方法，所述方法包括：设置支架的上升时间；控制所述支架凸出承载平台；分离玻璃于所述承载平台；移动龙门架于所述玻璃上方；以及控制离子棒吹向所述玻璃。

进一步地，在所述设置支架的上升时间的步骤之前还包括：接收所述玻璃于承载平台上，龙门架在所述玻璃上方平行移动；以及通过光学检测头检测所述玻璃是否合格。

进一步地，在所述控制离子棒吹向所述玻璃的步骤中，所述离子棒包括第一离子棒和第二离子棒，且所述第一离子棒与所述第二离子棒对称设置。

进一步地，在所述控制离子棒吹向所述玻璃的步骤中，设置所述第一离子棒和所述第二离子棒于所述龙门架正下方，所述第一离子棒和所述第二离子棒均随所述龙门架移动而移动。

进一步地，在所述控制所述支架凸出承载平台及分离玻璃于所述承载平台的步骤中，通过所述支架上升带动所述玻璃上升，以至于所述玻璃分离于所述承载平台。

进一步地，在所述通过光学检测头检测所述玻璃是否合格的步骤中，所述光学检测头包括第一光学检测头、第二光学检测头以及第三光学检测头。

进一步地，在所述通过光学检测头检测所述玻璃是否合格的步骤中，将所述第一光学检测头设于所述龙门架左侧，将所述第二光学检测头设于所述龙门架中间，将所述第三光学检测头设于所述龙门架右侧，所述第一光学检测头、所述第二光学检测头以及所述第三光学检测头均随所述龙门架移动而移动。

进一步地，在所述通过光学检测头检测所述玻璃是否合格的步骤中，所述光学检测头包括镜头，所述镜头内填充有液晶。

进一步地，在所述通过光学检测头检测所述玻璃是否合格的步骤中，增加电压至所述玻璃，以使所述玻璃与所述镜头之间形成电场；通过所述镜头发射光源并获取反射光线，以判断所述玻璃是否合格。

进一步地，在所述通过所述镜头发射光源并获取反射光线，以判断所述玻璃是否合格的步骤中，当判断出所述反射光线偏离正常方向时，则判定所述玻璃为存有缺陷，当判断出所述反射光线未偏离正常方向时，则判定所述玻璃为合格。

进一步地，在所述接收所述玻璃于承载平台上，龙门架在所述玻璃上方平行移动的步骤中，控制所述支架内凹于所述承载平台。

本发明通过设置支架的上升时间，使上升时间增加来减缓玻璃与承载平台的分离速度，减少静电的产生，并伴随移动龙门架至玻璃上方，使离子棒能够正面吹相玻璃以消除产生的静电，彻底改善ATS造成的静电击伤面板导致的良率下降的问题。

附图说明

下面结合附图，通过对本发明的具体实施方式详细描述，将使本发明的技术方案及其有益效果显而易见。

图1是本发明实施例提供的降低阵列电性测试机静电产生的方法的流程示意图。