[发明专利]一种有效筛选颗粒新增坏块的方法及其系统有效

专利信息
申请号: 201910777858.1 申请日: 2019-08-22
公开(公告)号: CN110517718B 公开(公告)日: 2021-06-08
发明(设计)人: 刘丙圣;方华 申请(专利权)人: 深圳忆联信息系统有限公司
主分类号: G11C29/04 分类号: G11C29/04;G06F11/22
代理公司: 深圳市精英专利事务所 44242 代理人: 巫苑明
地址: 518067 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种有效筛选颗粒新增坏块的方法及其系统;其中,方法,包括:进行出厂坏块检测;将检测出的坏块移至坏块表中;对颗粒进行多轮次全盘擦/写/读操作,以检测出新增坏块;将新增坏块移至坏块表中。本发明通过采取SLC模式,TLC模式,SLC模式和TLC模式,进行36轮全盘擦/写/读测试,数据采取固定数据/随机数据/固定和随机数据方式填入,块擦写读按照顺序/倒序/顺序和倒序折半方式,可以有效的筛查出易损坏、弱性坏块,将新增坏块或弱块更新到坏块表中,为SSD正常运行提供有效的保障,保证SSD固件长久稳定正常运行,能够更好地满足需求。
搜索关键词: 一种 有效 筛选 颗粒 新增 方法 及其 系统
【主权项】:
1.一种有效筛选颗粒新增坏块的方法,其特征在于,包括以下步骤:/n进行出厂坏块检测;/n将检测出的坏块移至坏块表中;/n对颗粒进行多轮次全盘擦/写/读操作,以检测出新增坏块;/n将新增坏块移至坏块表中。/n
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