[发明专利]一种有效筛选颗粒新增坏块的方法及其系统

说明书

本发明涉及一种有效筛选颗粒新增坏块的方法及其系统；其中，方法，包括：进行出厂坏块检测；将检测出的坏块移至坏块表中；对颗粒进行多轮次全盘擦/写/读操作，以检测出新增坏块；将新增坏块移至坏块表中。本发明通过采取SLC模式，TLC模式，SLC模式和TLC模式，进行36轮全盘擦/写/读测试，数据采取固定数据/随机数据/固定和随机数据方式填入，块擦写读按照顺序/倒序/顺序和倒序折半方式，可以有效的筛查出易损坏、弱性坏块，将新增坏块或弱块更新到坏块表中，为SSD正常运行提供有效的保障，保证SSD固件长久稳定正常运行，能够更好地满足需求。

技术领域

本发明涉及颗粒坏块筛选技术领域，更具体地说是指一种有效筛选颗粒新增坏块的方法及其系统。

背景技术

SSD作为数据存储硬盘，数据出现丢失或损坏，会直接造成不可预估的破坏结果；为保证SSD固件正常运行，NandFlash颗粒坏块筛选成为不可缺少的重要一环；NandFlash颗粒坏块主要由三部分组成，一种是颗粒出厂时即出现坏块，即factory bad block(FBB，出厂坏块)；一种是运行过程中出现的坏块；最后一种是弱块，即固件运行中，此块稳定性很差，对数据完整性存在潜在的风险。

为了保证SSD数据能够安全保存，在烧录固件之前，需要对NandFlash颗粒存在的三种坏块场景进行有效识别，这样才不会影响后续固件的长期稳定执行；由于FBB是出厂固定坏块，因此，如何有效识别出第二种(运行过程中产生的坏块)和第三种坏块(弱块)，成为提升SSD高效稳定使用的关键；而现有技术，只能将出厂已有坏块检查出来，但是无法对存在的潜在坏块或弱块进行筛选，如果固件运行中检查出坏块，需要固件重新更新坏块表，并且涉及到数据搬移，而数据频繁的搬移，对数据的稳定性产生极大损害；因此，无法满足需求。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种有效筛选颗粒新增坏块的方法及其系统。

为实现上述目的，本发明采用于下技术方案：

一种有效筛选颗粒新增坏块的方法，包括以下步骤：

进行出厂坏块检测；

将检测出的坏块移至坏块表中；

对颗粒进行多轮次全盘擦/写/读操作，以检测出新增坏块；

将新增坏块移至坏块表中。

其进一步技术方案为：所述S3中，所述“对颗粒进行多轮次全盘擦/写/读操作，以检测出新增坏块”包括：以SLC模式执行12轮全盘擦/写/读操作，以TLC模式执行12轮全盘擦/写/读操作，及以SLC和TLC模式执行12轮全盘擦/写/读操作。

其进一步技术方案为：所述“以SLC模式执行12轮全盘擦/写/读操作”的步骤如下：

对颗粒写入固定数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；

对颗粒写入随机数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；

对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块的前一半块按顺序执行擦/写/读操作，后一半块按倒序执行擦/写/读操作；

对颗粒写入随机数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；

对颗粒写入固定数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；

对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块的前一半块按倒序执行擦/写/读操作，后一半块按顺序执行擦/写/读操作；

对颗粒写入固定数据和随机数据，全盘块按顺序执行擦/写/读操作；

对颗粒写入固定数据，全盘块按倒序执行擦/写/读操作；

对颗粒写入随机数据，全盘块的前一半块按顺序执行擦/写/读操作，后一半块按倒序执行擦/写/读操作；