[发明专利]一种光学测试系统及测试方法在审

专利信息
申请号: 201910754777.X 申请日: 2019-08-15
公开(公告)号: CN110460839A 公开(公告)日: 2019-11-15
发明(设计)人: 李旭;马洪涛;韩冰 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00
代理公司: 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 田媛媛<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 130033吉林省长春市*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 本申请公开了一种光学测试系统,包括光学设备,用于为待测成像设备提供待采集的目标,所述光学设备包括平行光管、置于所述平行光管的焦面位置的可见光目标发生器、置于所述焦面位置的积分球光源,其中,所述积分球光源由积分球和照明灯组成;三综合试验箱,用于为所述待测成像设备供所需的测试环境。本申请光学测试系统可以使待测成像设备在模拟出的真实工作环境下,对待测成像设备的成像质量进行测试,由光学设备提供待采集的目标,以供待测成像设备采集,三综合试验箱为待测成像设备模拟真实工作环境。此外,本申请还提供一种具有上述优点的测试方法。
搜索关键词: 成像设备 光学设备 光学测试系统 积分球光源 综合试验箱 焦面位置 平行光管 采集 申请 目标发生器 测试 测试环境 可见光 照明灯 积分球 成像
【主权项】:
1.一种光学测试系统,其特征在于,包括:/n光学设备,用于为待测成像设备提供待采集的目标,所述光学设备包括平行光管、置于所述平行光管的焦面位置的可见光目标发生器、置于所述焦面位置的积分球光源,其中,所述积分球光源由积分球和照明灯组成;/n三综合试验箱,用于为所述待测成像设备提供所需的测试环境。/n
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