[发明专利]一种光学测试系统及测试方法

说明书

本申请公开了一种光学测试系统，包括光学设备，用于为待测成像设备提供待采集的目标，所述光学设备包括平行光管、置于所述平行光管的焦面位置的可见光目标发生器、置于所述焦面位置的积分球光源，其中，所述积分球光源由积分球和照明灯组成；三综合试验箱，用于为所述待测成像设备供所需的测试环境。本申请光学测试系统可以使待测成像设备在模拟出的真实工作环境下，对待测成像设备的成像质量进行测试，由光学设备提供待采集的目标，以供待测成像设备采集，三综合试验箱为待测成像设备模拟真实工作环境。此外，本申请还提供一种具有上述优点的测试方法。

技术领域

本申请涉及光学测试技术领域，特别是涉及一种光学测试系统及测试方法。

背景技术

光电成像设备的光学指标，如焦距、像差、成像分辨率、MTF(Modulation TransferFunction，调制传递函数)等的测试结果，可以反应出光电成像设备成像质量的优劣。对于某些特殊光电成像设备，例如军用光电成像设备，通常要求在特殊环境下依然能够正常工作，如高低温、振动、各种环境湿度等特殊环境，因此，为了确定光电成像设备在特殊环境下能否正常工作，需要模拟出特殊环境并对光电成像设备进行光学测试，以保证光电成像设备在实际使用过程中正常工作。

目前，对光电成像设备进行测试时，都是在实验室环境下(常压，20℃±2℃，相对湿度30％～70％)进行测试，环境试验只能实现高低温存储，而在高低温测试时，只是进行诸如光电成像设备能否正常开机、调焦机构能否正常工作等功能性测试。而决定光电成像设备性能的各类光学指标如焦距、MTF、像差、成像分辨率等还无法在真实工作条件下检验，极大地制约了光电成像设备在实际工作环境下的性能考核。

因此，如何在实际工作环境下对光电成像设备进行光学指标的测试，是本领域技术人员应重点关注的。

发明内容

本申请的目的是提供一种光学测试系统及测试方法，以模拟出实际工作环境，对成像设备进行测试。

为解决上述技术问题，本申请提供一种光学测试系统，包括：

光学设备，用于为待测成像设备提供待采集的目标，所述光学设备包括平行光管、置于所述平行光管的焦面位置的可见光目标发生器、置于所述焦面位置的积分球光源，其中，所述积分球光源由积分球和照明灯组成；

三综合试验箱，用于为所述待测成像设备提供所需的测试环境。

可选的，所述平行光管的主反射镜为改进型压框式主反射镜。

可选的，所述照明灯为卤素灯。

可选的，所述照明灯的数量为4个。

可选的，还包括：

可变光阑，位于所述照明灯和所述积分球的连接处。

可选的，还包括：

与所述照明灯相连的移动装置，用于调整所述照明灯的位置。

可选的，所述平行光管为Cassegrain式平行光管。

本申请还提供一种光学测试方法，包括：

将待测成像设备置于三综合试验箱中；

将可见光目标发生器和积分球光源置于平行光管的焦面位置处，并开启所述积分球光源，以产生待采集的目标；

将所述待测成像设备对准所述平行光管的出光口；

开启所述三综合试验箱，得到所述待测成像设备所需的测试环境；

所述待测成像设备采集所述目标的图像，并根据所述图像确定所述待测成像设备的光学测试结果。

可选的，当光学测试为静态分辨率测试时，所述将可见光目标发生器和积分球光源置于平行光管的焦面位置处包括：