[发明专利]基于高光谱技术的绝缘子污秽度非接触检测方法

摘要

本发明公开了一种基于高光谱技术的绝缘子污秽度非接触检测方法，涉及输变电设备运行状态检修技术领域。该方法包括：获取积污绝缘子的第一高光谱图像集和第二高光谱图像集；提取第一高光谱图像集的高光谱数据，将其中一部分数据作为训练集，另一部分数据作为测试集，建立污秽度多参量检测模型，并用测试集对该模型进行优化；提取第二高光谱图像集中若干个局部区域的高光谱数据，并通过优化后的污秽度多参量检测模型进行识别，从而得到盐灰比例Ⅱ和污秽总量Ⅱ，计算出绝缘子的污秽等值盐密Ⅱ和污秽灰密Ⅱ。该方法识别准确率高，适用于现场带电检测，可实现绝缘子各局部区域污秽度的检测，为制定具有针对性的绝缘子清扫方案提供了技术参考。

主权项

1.一种基于高光谱技术的绝缘子污秽度非接触检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、获取积污绝缘子的高光谱图像集，并对高光谱图像集进行校正、变换处理，将处理后的高光谱图像集分为两部分，分别为第一高光谱图像集和第二高光谱图像集；S2、获取第一高光谱图像集所对应的积污绝缘子区域的盐灰比例Ⅰ和污秽总量Ⅰ；S3、提取第一高光谱图像集的纹理特征和高光谱谱线，其中第一高光谱图像集的纹理特征对应标签为盐灰比例Ⅰ，第一高光谱图像集的高光谱谱线对应标签为污秽总量Ⅰ，将第一高光谱图像集的一部分纹理特征和高光谱谱线作为训练集，另一部分纹理特征和高光谱谱线作为测试集，根据分类算法和训练集建立污秽度多参量检测模型，并用测试集对污秽度多参量检测模型进行优化；S4、提取第二高光谱图像集中若干个局部区域的纹理特征和高光谱谱线，并通过优化后的污秽度多参量检测模型对它们进行识别，得到盐灰比例Ⅱ和污秽总量Ⅱ，根据盐灰比例Ⅱ和污秽总量Ⅱ，计算积污绝缘子的污秽等值盐密Ⅱ和污秽灰密Ⅱ，完成绝缘子污秽度的非接触检测。