[发明专利]IGBT低频噪声检测装置有效
申请号: | 201910728583.2 | 申请日: | 2019-08-08 |
公开(公告)号: | CN110426619B | 公开(公告)日: | 2021-10-08 |
发明(设计)人: | 陈晓娟;张新超;曲畅;吴洁;南春岩;李宁 | 申请(专利权)人: | 长春理工大学 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 | 代理人: | 朱红玲 |
地址: | 130033 吉林*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | IGBT低频噪声检测装置,涉及电子测量技术领域,解决现有电子器件可靠性检测中对器件的损伤问题,整体系统包含硬件测试系统和软件分析平台两个部分。硬件系统包含电源系统、低噪声偏置电路、低噪声前置放大器及高速数据采集卡四个部分模块;软件分析平台分为时域分析模块、频域分析模块、数据存储模块、数据读取模块、信号采集模块和报告生成模块。其中的硬件系统主要完成IGBT漏极电压噪声的测量,软件平台主要完成低频噪声数据的时间序列的显示,并对高速数据采集卡得到的噪声数据完成频谱分析,最终实现IGBT器件的低频噪声的检测。本发明可避免传统电子器件可靠性检测中对器件噪声的不可逆损伤,实现对IGBT低频噪声的无损检测。 | ||
搜索关键词: | igbt 低频 噪声 检测 装置 | ||
【主权项】:
1.IGBT低频噪声检测装置,其特征是:包括电源系统、低噪声偏置电路、低噪声前置放大器、高速数据采集卡及分析模块;所述电源系统的输出端采用EMI低通滤波器消除电磁场对测量的干扰,低噪声偏置电路为待测IGBT器件提供连续可变的偏置电压,所述待测IGBT器件输出低频噪声信号;所述前置放大器对所述低频噪声信号进行放大,并由数据采集卡实现对放大后噪声信号的采集,最终由分析模块实现对低频噪声信号时间序列和频谱的显示与分析。
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