[发明专利]自由电子激发增强近场信号的扫描近场光学显微镜有效
| 申请号： | 201910726384.8 | 申请日： | 2019-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN110488043B | 公开（公告）日： | 2021-05-04 |
| 发明（设计）人： | 胡旻;张天宇;张倬铖;王玥莹;张晓秋艳;许星星;吴振华;龚森;赵陶;钟任斌;刘頔威;刘盛纲 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01Q60/18 | 分类号： | G01Q60/18 |
| 代理公司： | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人： | 邓黎 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种自由电子激发增强近场信号的扫描近场光学显微镜，属于扫描近场光学显微镜领域。本发明在现有扫描近场光学显微镜的基础之上，通过引入自由电子，在被测样品上产生表面近场，进而增强扫描近场光学显微镜近场信号及其成像质量。其实现将大幅提升红外太赫兹以及可见光等频段的微纳尺度结构的近场特性研究及其应用。 | ||
| 搜索关键词： | 自由电子 激发 增强 近场 信号 扫描 光学 显微镜 | ||
【主权项】：
1.一种自由电子激发增强近场信号的扫描近场光学显微镜，包括电子枪、扫描近场光学显微镜，其特征在于，所述电子枪产生的电子束激励样品产生第一种表面近场，所述扫描近场光学显微镜中的纳米针尖激励样品产生第二种表面近场，所述第一种、第二种表面近场为能够相互耦合的同一频率的表面近场，从而增强近场信号强度和近场成像质量，然后扫描近场光学显微镜得到成像结果。/n
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