[发明专利]统一格式的demura数据应用方法在审

专利信息
申请号: 201910691444.7 申请日: 2019-07-29
公开(公告)号: CN110246469A 公开(公告)日: 2019-09-17
发明(设计)人: 何冠贤;刘克远 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: G09G3/36 分类号: G09G3/36
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人: 林才桂;刘巍
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种统一格式的demura数据应用方法。该方法包括:步骤S11、系统芯片初始化;步骤S12、判断第一存储器内有无第一格式demura数据,若有则执行步骤S13,若无则执行步骤S16;步骤S13、校验第一存储器内的第一格式demura数据与第二存储器内的第二格式demura数据的一致性,若校验结果为一致则执行步骤S14,若校验结果为不一致则执行步骤S16;步骤S14、读取第一存储器内的第一格式demura数据;步骤S15、启动demura数据补偿;步骤S16、根据第二存储器内的第二格式demura数据生成第一格式demura数据并写入第一存储器,接下来执行步骤S15。本发明可以将当前混乱多样的demura数据格式统一,极大地降低面板厂商对产品的管控难度。
搜索关键词: 存储器 第二存储器 数据应用 统一格式 校验结果 数据格式统一 读取 数据补偿 数据生成 系统芯片 校验 不一致 初始化 管控 写入 厂商 混乱
【主权项】:
1.一种统一格式的demura数据应用方法,其特征在于,包括:步骤S11、系统芯片初始化;步骤S12、判断第一存储器内有无第一格式demura数据,若有则执行步骤S13,若无则执行步骤S16;步骤S13、校验第一存储器内的第一格式demura数据与第二存储器内的第二格式demura数据的一致性,若校验结果为一致则执行步骤S14,若校验结果为不一致则执行步骤S16;步骤S14、读取第一存储器内的第一格式demura数据;步骤S15、启动demura数据补偿;步骤S16、根据第二存储器内的第二格式demura数据生成第一格式demura数据并写入第一存储器,接下来执行步骤S15。
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