[发明专利]基于光强传输方程的X射线单次曝光成像装置及方法有效

专利信息
申请号: 201910664559.7 申请日: 2019-07-23
公开(公告)号: CN110455834B 公开(公告)日: 2021-11-05
发明(设计)人: 张军勇;张秀平;张艳丽;周申蕾;朱健强 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种基于光强传输方程的X射线单次曝光成像装置及方法,包括X射线源、扩束器、第一三维平移台、被测物体、第一单焦点光子筛聚焦透镜、双焦点光子筛聚焦透镜、第二单焦点光子筛聚焦透镜、第二三维平移台、X射线探测器和计算机,本发明可用于从X射线到太赫兹波段的成像;成像方法单光路操作简单,只需记录单幅强度图,可实时在线快速地实现被测物体相位图像的准确再现,特别适用于动态物体的成像和观测;成像方法对X射线源相干性要求低,X射线源可为相干X射线源和部分相干X射线源;能够快速准确的利用记录的强度图恢复得到物体的相位图像,可以避免多次操作提高成像装置的鲁棒性。
搜索关键词: 基于 传输 方程 射线 曝光 成像 装置 方法
【主权项】:
1.一种基于光强传输方程的X射线单次曝光成像装置,其特征在于,包括X射线源(1)、扩束器(2)、供被测物体(4)放置的第一三维平移台(3)、第一单焦点光子筛聚焦透镜(5)、双焦点光子筛聚焦透镜(6)、第二单焦点光子筛聚焦透镜(7)、第二三维平移台(8)、计算机(10),以及固定在所述的第二三维平移台(8)上的X射线探测器(9);/n所述的X射线源(1)发出的光脉冲经过所述的扩束器(2)进行扩束,扩束后的光束作为入射光束,该入射光束能够覆盖被测物体(4);/n所述的入射光束入射到所述的被测物体(4),经该被测物体(4)透射后,依次经过所述的第一单焦点光子筛聚焦透镜(5)、双焦点光子筛聚焦透镜(6)和第二单焦点光子筛聚焦透镜(7)到达所述的X射线探测器(9);/n所述的第一单焦点光子筛聚焦透镜(5)、双焦点光子筛聚焦透镜(6)和第二单焦点光子筛聚焦透镜(7)构成4f系统,且所述的双焦点光子筛聚焦透镜(6)放置在该4f系统的频谱面上;/n所述的4f系统具有两个像面IP1和IP2,两像面的间距△z大于0;/n所述的被测物体(4)放置于所述的4f系统的物面上,所述的X射线探测器(9)位于所述的4f系统的像面IP1或IP2后方光路上;/n所述的X射线探测器(9)的输出端与所述的计算机(10)的输入端连接;/n所述的计算机(10)具有相应数据记录采集与处理软件,用来记录强度图与数据处理。/n
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