[发明专利]一种硬盘上下电测试方法与装置在审

专利信息
申请号: 201910651583.7 申请日: 2019-07-18
公开(公告)号: CN110502376A 公开(公告)日: 2019-11-26
发明(设计)人: 冯超 申请(专利权)人: 苏州浪潮智能科技有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 11278 北京连和连知识产权代理有限公司 代理人: 张涛<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 215100 江苏省苏州市吴*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种硬盘上下电测试方法与装置包括:通过智能平台管理接口向多个测试设备发送下电命令,使多个测试设备将多个测试设备的被测硬盘异常下电;通过智能平台管理接口向多个测试设备发送上电命令,使多个测试设备将多个测试设备的被测硬盘上电;使多个测试设备基于异常下电和上电后被测硬盘是否正常工作来反馈测试结果。本发明能够针对多个硬盘并行反复自动异常上下电以测试稳定性,节约时间与人力。
搜索关键词: 测试设备 硬盘 智能平台管理接口 上下电 上电 下电 发送 测试稳定性 反馈测试 上电命令 下电命令 并行 测试 节约
【主权项】:
1.一种硬盘上下电测试方法,其特征在于,包括:/n通过智能平台管理接口向多个测试设备发送下电命令,以使所述多个测试设备将其被测硬盘异常下电;/n通过智能平台管理接口向所述多个测试设备发送上电命令,以使所述多个测试设备将其被测硬盘上电;/n使所述多个测试设备基于所述异常下电和上电后被测硬盘是否正常工作来反馈测试结果。/n
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