[发明专利]一种硬盘上下电测试方法与装置在审
| 申请号: | 201910651583.7 | 申请日: | 2019-07-18 |
| 公开(公告)号: | CN110502376A | 公开(公告)日: | 2019-11-26 |
| 发明(设计)人: | 冯超 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
| 代理公司: | 11278 北京连和连知识产权代理有限公司 | 代理人: | 张涛<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
| 地址: | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测试设备 硬盘 智能平台管理接口 上下电 上电 下电 发送 测试稳定性 反馈测试 上电命令 下电命令 并行 测试 节约 | ||
本发明公开了一种硬盘上下电测试方法与装置包括:通过智能平台管理接口向多个测试设备发送下电命令,使多个测试设备将多个测试设备的被测硬盘异常下电;通过智能平台管理接口向多个测试设备发送上电命令,使多个测试设备将多个测试设备的被测硬盘上电;使多个测试设备基于异常下电和上电后被测硬盘是否正常工作来反馈测试结果。本发明能够针对多个硬盘并行反复自动异常上下电以测试稳定性,节约时间与人力。
技术领域
本发明涉及计算机领域,更具体地,特别是指一种硬盘上下电测试方法与装置。
背景技术
随着互联网、云计算、物联网等技术的发展,固态硬盘(SSD)作为新一代存储而被广泛应用。在固态硬盘研发测试的过程中,需要着重关注固态硬盘反复异常上下电过程中的稳定性,其中SSD在直流(DC power)条件下反复异常上下电是尤为重要的测试项。当前条件下该项测试需要测试人员手动反复长按开机键来模拟DC Power Cycle,由于测试轮数高达3000轮以上,且需要多台机器同时测试,当前测试方法极其耗费人力和时间。
针对现有技术中硬盘反复异常上下电测试耗时长、消耗人力的问题,目前尚未有有效的解决方案。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例的目的在于提出一种硬盘上下电测试方法与装置,能够针对多个硬盘并行反复自动异常上下电以测试稳定性,节约时间与人力。
基于上述目的,本发明实施例的第一方面提供了一种硬盘上下电测试方法,包括:
通过智能平台管理接口向多个测试设备发送下电命令,以使多个测试设备将其被测硬盘异常下电;
通过智能平台管理接口向多个测试设备发送上电命令,以使多个测试设备将其被测硬盘上电;
使多个测试设备基于异常下电和上电后被测硬盘是否正常工作来反馈测试结果。
在一些实施方式中,还包括:
检查多个测试设备中的被测硬盘状态;
响应于检测到被测硬盘状态不正常而直接反馈状态不正常的被测硬盘的信息。
在一些实施方式中,还包括:获取多个测试设备的连接信息并连接到多个测试设备,其中连接信息包括以下至少之一:IP地址、物理地址、登录密码。
在一些实施方式中,连接到多个测试设备包括:使用客户端/服务器架构连接到多个测试设备。
在一些实施方式中,通过智能平台管理接口向多个测试设备发送下电命令或上电命令包括:使用IMPItool通过智能平台管理接口在链路层向多个测试设备发送下电命令或上电命令。
在一些实施方式中,通过智能平台管理接口向多个测试设备发送下电命令或上电命令还包括:使用安全外壳协议向多个测试设备发送下电命令或上电命令。
在一些实施方式中,使多个测试设备基于异常下电和上电后被测硬盘是否正常工作来反馈测试结果包括:
使多个测试设备判定被测硬盘在异常下电和上电后是否正常工作;
响应于被测硬盘仍然正常工作而再次将被测硬盘异常下电和上电;
响应于被测硬盘不能正常工作而反馈测试失败。
在一些实施方式中,方法还包括:响应于被测硬盘在异常下电和上电次数达到阈值后仍然正常工作而反馈测试成功。
本发明实施例的第二方面提供了一种硬盘上下电测试装置,包括:
下电模块,用于通过智能平台管理接口向多个测试设备发送下电命令,使多个测试设备将其被测硬盘异常下电;
上电模块,用于通过智能平台管理接口向多个测试设备发送上电命令,使多个测试设备将其被测硬盘上电;
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