[发明专利]基于FLASH和继电器的FPGA配置测试系统及方法在审
| 申请号： | 201910646937.9 | 申请日： | 2019-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN112241388A | 公开（公告）日： | 2021-01-19 |
| 发明（设计）人： | 张金凤;孟庆伟;唐金慧;马成英;杨超;刘玏 | 申请（专利权）人： | 北京振兴计量测试研究所 |
| 主分类号： | G06F15/78 | 分类号： | G06F15/78;G06F11/22;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100074 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及电子元器件检测技术领域，公开了一种基于FLASH和继电器的FPGA配置测试系统及方法。该系统包括：配置测试板；FLASH芯片，设置在所述配置测试板上，用于在测试过程中向FPGA芯片装载对应的配置文件；继电器，设置在所述配置测试板上与所述FLASH芯片连接，用于根据接收的配置指令执行切换操作来控制所述FLASH芯片的配置文件的装载；测试装置，用于对装载有配置文件的FPGA芯片进行测试。由此，可以通过继电器的切换控制配置FLASH芯片的数据装载，实现FPGA测试的多重实时配置。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 flash 继电器 fpga 配置 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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