[发明专利]太赫兹光谱测量装置、测量方法及其用途有效
| 申请号： | 201910637843.5 | 申请日： | 2019-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN112229814B | 公开（公告）日： | 2021-11-05 |
| 发明（设计）人： | 林琦;林中晞;朱振国;钟杏丽;苏辉 | 申请（专利权）人： | 中国科学院福建物质结构研究所 |
| 主分类号： | G01N21/3581 | 分类号： | G01N21/3581;G01N21/41;G01B11/06;G01R27/02 |
| 代理公司： | 北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙) 11535 | 代理人： | 张祖萍 |
| 地址： | 350002 *** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明属于材料太赫兹频率范围光电相关性能测试技术领域，具体涉及一种太赫兹光谱测量方法、测量装置及其用途。本发明提供一种太赫兹光谱的测量装置，包括两频差在太赫兹波段的差频激光源、太赫兹发射天线、太赫兹接收天线、偏置电压电路、太赫兹光学系统、信号输出采集电路和相位或光程调节系统。本发明还提供使用所述测量装置测量太赫兹光谱的方法，以及所述装置和方法的用途。 | ||
| 搜索关键词： | 赫兹 光谱 测量 装置 测量方法 及其 用途 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院福建物质结构研究所，未经中国科学院福建物质结构研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910637843.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：微透镜芯片
- 下一篇：一种便于更换钻头的合金新材料打孔装置
