[发明专利]融合的深度测量装置及距离测量方法在审
| 申请号： | 201910631574.1 | 申请日： | 2019-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN110456379A | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 许星 | 申请（专利权）人： | 深圳奥比中光科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/89 | 分类号： | G01S17/89;G01S17/10;G01S17/32;G01S7/486;G06K9/62 |
| 代理公司： | 44223 深圳新创友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 孟学英<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 518000广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种融合的深度测量装置及距离测量方法，深度测量装置包括：光发射模组，包含第一光源用于发射时序上振幅被调制的光束，图案化光学元件用于接收光束后向目标物体发射结构光光束；泛光光源模组，包括第二光源用于向目标物体发射时序上振幅被调制的泛光光束；TOF图像传感器，包含至少一个像素，像素用于接收结构光光束并形成第一电信号；或，接收泛光光束并形成第二电信号；控制和处理电路，对光发射模组和泛光光源模组的时序进行控制，按时序分别接收结构光光束形成的第一电信号，以及，泛光光束形成的第二电信号；处理第一电信号及第二电信号以获得目标物体的深度图像。实现更大的测量范围，同时在大范围内均保持较高的测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 泛光 时序 目标物体发射 深度测量装置 光束形成 光源模组 接收结构 像素 调制 光源 测量 光发射模组 处理电路 发射模组 光学元件 接收光束 距离测量 目标物体 深度图像 结构光 图案化 传感器 后向 发射 融合 | ||
【主权项】：
1.一种融合的深度测量装置，其特征在于，包括：/n光发射模组，包含第一光源及图案化光学元件，所述第一光源用于发射时序上振幅被调制的光束，所述图案化光学元件用于接收所述光束后向目标物体发射结构光光束；/n泛光光源模组，包括第二光源，用于向所述目标物体发射时序上振幅被调制的泛光光束；/nTOF图像传感器，包含至少一个像素，所述像素用于接收由所述目标物体反射的结构光光束并形成第一电信号；或，所述像素用于接收所述目标物体反射的泛光光束并形成第二电信号；/n控制和处理电路，对所述光发射模组和所述泛光光源模组的时序进行控制，按所述时序分别接收所述目标物体反射的所述结构光光束形成的所述第一电信号，以及，所述目标物体反射的所述泛光光束形成的所述第二电信号；处理所述第一电信号及第二电信号以获得所述目标物体的深度图像。/n
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