[发明专利]一种物体尺寸测量方法及系统

摘要

本发明涉及测量领域，本发明公开了一种物体尺寸测量方法及系统，包括扫描系统、冷却模块和处理器，所述扫描系统包括光反射镜、光学镜头和光电探测器，所述光反射镜将接收的红外辐射能量反射给所述光学镜头，所述光学镜头连接所述光电探测器，所述光学镜头及光电探测器安装于所述冷却模块内，所述处理器连接所述光电探测器，用于根据接收的红外辐射能量计算待测量物体的长度及宽度尺寸。本发明不仅能测量待测量物体的温度，而且还能测量待测量物体的长度和宽度，适用范围更加广泛，同时本发明测量待测量物体的尺寸时，无需冷却，节省了能源的损耗。

主权项

1.一种物体尺寸测量方法，其特征在于，包括：获取光斑信息，所述光斑信息包括扫描系统扫描范围内的每个光斑的长轴尺寸D，所述光斑的长轴尺寸D的测量方法为：获取扫描系统至待测量物体垂直距离Y和扫描系统视角范围内的光斑数量N；获取扫描系统的物距比，所述物距比配置为R：1；获取扫描系统的扫描视角范围内的角度；计算所述光斑的长轴尺寸D，当所述光斑为正向光斑时，所述正向光斑的长轴尺寸D₁计算方式为：；当所述光斑为斜向光斑时，计算所述斜向光斑至所述扫描系统的最长距离，n为正向光斑一侧的第n个斜向光斑，然后计算所述斜向光斑的长轴尺寸；获取待测量物体的轮廓信息，所述轮廓信息通过扫描系统扫描动态的待测量物体获得；根据所述待测量物体的轮廓信息对应的光斑信息确定所述待测量物体的尺寸；其中，所述扫描系统为红外扫描测温系统，动态的待测量物体的长度尺寸L测量方法如下：所述待测量物体长度方向的一端设置为参考位置；所述扫描系统对所述待测量物体至少进行两次扫描，第一次扫描时，记录所述参考位置占据的所述光斑为A，第二次扫描时，记录所述参考位置占据的所述光斑为B，然后计算B到A之间的距离；计算待测量物体运动速度V，所述运动速度V计算方式为：V=B到A之间的距离/一次扫描所用的时间t；如果所述待测量物体运动方向与所述扫描系统扫描方向一致时，所述待测量物体的长度L计算方式为：L=M‑Vt，其中t为一次扫描所用的时间，M为一次扫描所述待测量物体占据所述光斑的长轴尺寸D之和；如果所述待测量物体运动方向与所述扫描系统扫描方向相反时，所述待测量物体的长度L计算方式为：L=M+Vt，其中t为一次扫描所用的时间，M为一次扫描所述待测量物体占据所述光斑的长轴尺寸D之和。