[发明专利]一种物体尺寸测量方法及系统

说明书

本发明涉及测量领域，本发明公开了一种物体尺寸测量方法及系统，包括扫描系统、冷却模块和处理器，所述扫描系统包括光反射镜、光学镜头和光电探测器，所述光反射镜将接收的红外辐射能量反射给所述光学镜头，所述光学镜头连接所述光电探测器，所述光学镜头及光电探测器安装于所述冷却模块内，所述处理器连接所述光电探测器，用于根据接收的红外辐射能量计算待测量物体的长度及宽度尺寸。本发明不仅能测量待测量物体的温度，而且还能测量待测量物体的长度和宽度，适用范围更加广泛，同时本发明测量待测量物体的尺寸时，无需冷却，节省了能源的损耗。

技术领域

本发明涉及尺寸测量领域，具体涉及一种物体尺寸测量方法及系统。

技术背景

目前钢铁厂的钢胚从铸钢炉中出来后，因为温度较高无法直接进行测量，需对钢胚进行冷却，然后才能进行测量，之后再进入下一步工序，很多时候下一步工序需要钢胚再次进行加热，这样就比较浪费能源以及生产企业的产能。

发明内容

本发明为解决钢胚在高温情况下无法直接测量尺寸的问题，本发明提供了一种物体尺寸测量方法，解决现有技术中需要将钢胚冷却后再进行测量的问题，能够节省能源并且提供生产企业的产能。

一种物体尺寸测量方法，包括：

获取光斑信息，所述光斑信息包括扫描系统扫描范围内的每个光斑的长轴尺寸D；

获取待测量物体的轮廓信息，所述轮廓信息通过扫描系统扫描静态的待测量物体获得；

根据所述待测量物体的轮廓信息对应的光斑信息确定所述待测量物体的尺寸；

其中，所述扫描系统为红外扫描测温系统，所述光斑的长轴尺寸D的测量方法为：

获取扫描系统至待测量物体垂直距离Y和扫描系统视角范围内的光斑数量N；

获取扫描系统的物距比，所述物距比配置为R：1；

获取扫描系统的扫描视角范围内的角度；

计算所述光斑的长轴尺寸D，当所述光斑为正向光斑时，所述正向光斑的长轴尺寸D₁计算方式为：；

当所述光斑为斜向光斑时，计算所述斜向光斑至所述扫描系统的最长距离，n为正向光斑一侧的第n个斜向光斑，然后计算所述斜向光斑的长轴尺寸。

进一步地，所述待测量物体的尺寸包括长度尺寸L，测量长度尺寸L时选择轴向扫描，长度尺寸L的计算方法为先获取所述待测量物体的轮廓长度方向上占据的光斑对应的光斑信息，然后计算所述待测量物体的长度方向上对应的所有的光斑的长轴尺寸D之和，即得到长度尺寸L。

进一步地，所述待测量物体的尺寸包括宽度尺寸W，测量宽度尺寸W时选择径向扫描，宽度尺寸W的计算方法为先获取所述待测量物体的轮廓宽度方向上占据的光斑对应的光斑信息，然后计算所述待测量物体的宽度方向上对应的所有的光斑的长轴尺寸D之和，即得到宽度尺寸W。

进一步地，如果所述待测量物体占据所述光斑的部分时，将所述光斑按所述光斑的长轴尺寸D_n等比例划分为P个小光斑，然后根据所述待测量物体占据的所述小光斑的个数计算出所述待测量物体占据部分的光斑长轴尺寸D_x。

一种物体尺寸测量方法，包括：

获取光斑信息，所述光斑信息包括扫描系统扫描范围内的每个光斑的长轴尺寸D；

获取待测量物体的轮廓信息，所述轮廓信息通过扫描系统扫描动态的待测量物体获得；

根据所述待测量物体的轮廓信息对应的光斑信息确定所述待测量物体的尺寸；

其中，动态的待测量物体的长度尺寸L测量方法如下：