[发明专利]一种低成本去除冶金硅中杂质硼的方法有效

专利信息
申请号: 201910614564.7 申请日: 2019-07-09
公开(公告)号: CN110342525B 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 黄仕华;周理想;陈达;丁月珂;芮哲 申请(专利权)人: 浙江师范大学
主分类号: C01B33/037 分类号: C01B33/037
代理公司: 杭州之江专利事务所(普通合伙) 33216 代理人: 朱枫
地址: 321004 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种低成本的去除冶金硅中杂质硼的方法,采用高温热氧化法首先在冶金硅表面生长二氧化硅薄层,其次通过热处理方式,调控杂质硼在二氧化硅/硅界面处的分凝,以及调控杂质硼过饱和析出、富集并偏析至硅晶界处,使得冶金硅内部的杂质硼扩散到二氧化硅/硅界面附近,然后去除二氧化硅,最后采用化学湿法酸处理,达到去除杂质的目的。本发明提出的新方法的总杂质去除率大于96%,杂质硼去除率大于93%,具有总杂质和硼杂质去除效率高、工艺流程短、生产成本低、污染小等特点,很容易在产业化上进行推广应用。
搜索关键词: 一种 低成本 去除 冶金 杂质 方法
【主权项】:
1.一种低成本去除冶金硅中杂质硼的方法,其特征在于:包括下列步骤:1)将块状的冶金硅清洗后破碎至符合要求的粒径,用电磁除铁器对残留的铁进行初步去除,然后进行超声清洗,再用去离子水冲洗,干燥处理;2)把步骤1)所得的冶金硅粉放入高温管式炉内,在氧气氛围下进行热氧化处理,温度为1000~1100℃,氧化时间为15~20min;随后,在氩气氛围下进行退火处理,温度为700~800℃,退火时间为1~2h;退火结束后,利用室温的去离子水对冶金硅粉进行淬火处理;3)浓度30%的氢氟酸溶液、浓度为25%的氟化铵溶液、去离子水,按体积比1:5:30混合配制二氧化硅腐蚀液,淬火后的冶金硅粉放入腐蚀液中浸泡,固液质量比为1:8,腐蚀时间为15~30min;4)取步骤3)所得的硅粉10g,添加到300ml、浓度为6~8mol/L的盐酸溶液中,在50~70℃的恒温水浴下浸泡2~4h;而后对硅粉进行离心分离,用去离子水冲洗;5)上步所得的硅粉,添加到200ml、浓度为4~6mol/L的硝酸溶液中,在50~70℃的恒温水浴下浸泡1~2h;而后对硅粉进行离心分离,用去离子水冲洗;6)把浓度分别为9~11mol/L的硫酸和3~4mol/L和氢氟酸,按5:1的体积比配制成120ml的混合溶液,然后把5ml、体积分数比为30%的丙三醇溶液添加至混合液中;把经过上步处理的硅粉放入其中浸泡2~3h,反应温度为60~80℃;7)在200ml、浓度为0.8~1.5mol/L的氢氟酸溶液中,添加15ml、体积分数比为30%的甘露醇溶液,把经过上步处理的硅粉浸泡其中,温度为70℃,浸泡时间为0.5~1.0h;8)上步所得硅粉用去离子水冲洗,然后在100℃温度下真空干燥2h。
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