[发明专利]一种曲线/曲面品质定量评价方法有效
申请号: | 201910598313.4 | 申请日: | 2019-07-04 |
公开(公告)号: | CN110307804B | 公开(公告)日: | 2021-03-30 |
发明(设计)人: | 纪小刚;闫晨;于益超 | 申请(专利权)人: | 江南大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G01B11/30 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 姜慧勤 |
地址: | 214122 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种曲线/曲面品质定量评价方法,具体步骤包括:获取曲线/面的原始控制点坐标矩阵,进行平移变换,得到新的控制点坐标矩阵;对新的控制点坐标矩阵进行多次小波光顺,得到低分辨曲线/面控制点矩阵,且每进行一次小波光顺,得到一个重构矩阵;利用重构矩阵对低分辨曲线/面控制点矩阵进行重构,重构至与曲线/面的原始控制点数相同,并计算曲线/面的光顺信息总和矩阵;计算曲线/面的细节信息总和矩阵;根据细节信息总和矩阵及光顺信息总和矩阵,计算细节比,根据细节比对曲线/面品质进行定量评价。本发明的曲线/曲面品质定量评价方法具有明确的步骤,通过具体的数值可有效提高评价的准确性,且计算过程简单高效。 | ||
搜索关键词: | 一种 曲线 曲面 品质 定量 评价 方法 | ||
【主权项】:
1.一种曲线品质定量评价方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1,获取曲线的原始控制点坐标矩阵,对曲线的原始控制点坐标矩阵进行平移变换,得到曲线新的控制点坐标矩阵;步骤2,对曲线新的控制点坐标矩阵进行k次小波光顺,得到11个控制顶点的低分辨曲线控制点矩阵,且每进行一次小波光顺,得到一个重构矩阵Pt,t=1,2,…,k,k为曲线小波光顺次数;步骤3,利用步骤2得到的重构矩阵对11个控制顶点的低分辨曲线控制点矩阵进行重构,重构至与曲线的原始控制点数相同,并计算曲线的光顺信息总和矩阵;步骤4,根据曲线的原始控制点坐标矩阵以及曲线的光顺信息总和矩阵,计算曲线的细节信息总和矩阵;步骤5,根据曲线的细节信息总和矩阵以及曲线的光顺信息总和矩阵,计算细节比,根据细节比对曲线品质进行定量评价。
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