[发明专利]一种曲线/曲面品质定量评价方法

权利要求书

1.一种曲线品质定量评价方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1，获取曲线的原始控制点坐标矩阵，对曲线的原始控制点坐标矩阵进行平移变换，得到曲线新的控制点坐标矩阵；

步骤2，对曲线新的控制点坐标矩阵进行k次小波光顺，得到11个控制顶点的低分辨曲线控制点矩阵，且每进行一次小波光顺，得到一个重构矩阵P_t，t＝1,2,…,k，k为曲线小波光顺次数；

步骤3，利用步骤2得到的重构矩阵对11个控制顶点的低分辨曲线控制点矩阵进行重构，重构至与曲线的原始控制点数相同，并计算曲线的光顺信息总和矩阵；

步骤4，根据曲线的原始控制点坐标矩阵以及曲线的光顺信息总和矩阵，计算曲线的细节信息总和矩阵；

步骤5，根据曲线的细节信息总和矩阵以及曲线的光顺信息总和矩阵，计算细节比，根据细节比对曲线品质进行定量评价；

所述细节比，计算公式为：

其中，s表示细节比，Cfairness表示光顺信息总和矩阵，C表示曲线的原始控制点坐标矩阵，||·||表示矩阵的F范数。

2.根据权利要求1所述曲线品质定量评价方法，其特征在于，步骤1所述平移变换的具体过程为：

设定曲线的原始控制点坐标矩阵为C_m×3，将矩阵C_m×3第三列后面加上一列全为1的列向量，将矩阵C_m×3扩充为m×4的矩阵C_m×4，则变换后的矩阵C′_m×4为：

C′_m×4＝C_m×4*L

其中，L为变换矩阵，(c_x,c_y,c_z)为曲线控制点中心坐标；则曲线新的控制点坐标矩阵为矩阵C′_m×4的前三列，m表示曲线控制点数目。

3.根据权利要求1所述曲线品质定量评价方法，其特征在于，步骤3所述曲线的光顺信息总和矩阵，计算公式为：

Cfairness＝P_kP_k-1…P₁C_e

其中，Cfairness表示光顺信息总和矩阵，C_e表示11个控制顶点的低分辨曲线控制点矩阵，P_t为对曲线新的控制点坐标矩阵第i次小波光顺得到的重构矩阵，t＝1,2,…,k，k为曲线小波光顺次数。

4.一种曲面品质定量评价方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1，获取曲面的原始控制点坐标矩阵，对曲面的原始控制点坐标矩阵进行平移变换，得到曲面新的控制点坐标矩阵；

步骤2，对曲面新的控制点坐标矩阵进行k₁次行小波光顺以及k₂次列小波光顺，得到11×11个控制顶点的低分辨曲面控制点矩阵，且每进行一次行小波光顺，得到一个行重构矩阵P_li，i＝1,2,…,k₁，k₁为曲面的行小波光顺次数，每进行一次列小波光顺，得到一个列重构矩阵P_cj，j＝1,2,…,k₂，k₂为曲面的列小波光顺次数；

步骤3，利用步骤2得到的行重构矩阵和列重构矩阵对11×11个控制顶点的低分辨曲面控制点矩阵进行重构，重构至与曲面的原始控制点数相同，并计算曲面的光顺信息总和矩阵；

步骤4，根据曲面的原始控制点坐标矩阵以及曲面的光顺信息总和矩阵，计算曲面的细节信息总和矩阵；

步骤5，根据曲面的细节信息总和矩阵以及曲面的光顺信息总和矩阵，计算细节比，根据细节比对曲面品质进行定量评价；

所述细节比，计算公式为：

其中，s表示细节比，Cfairness表示光顺信息总和矩阵，C表示曲面的原始控制点坐标矩阵，||·||表示矩阵的F范数。

5.根据权利要求4所述曲面品质定量评价方法，其特征在于，步骤3所述曲面的光顺信息总和矩阵，计算公式为：

其中，Cfairness表示光顺信息总和矩阵，C_e表示11×11个控制顶点的低分辨曲面控制点矩阵，P_li为行重构矩阵，i＝1,2,…,k₁，k₁为曲面的行小波光顺次数，P_cj为列重构矩阵，j＝1,2,…,k₂，k₂为曲面的列小波光顺次数。