[发明专利]光谱仪的温控方法、温控装置及气体分析仪有效
| 申请号： | 201910596321.5 | 申请日： | 2019-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN110427057B | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 敖小强;李瑞姣 | 申请（专利权）人： | 北京雪迪龙科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G05D23/20 | 分类号： | G05D23/20;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙) 11446 | 代理人： | 冷文燕;王月春 |
| 地址： | 102206 北京市昌*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种光谱仪的温控方法、温控装置及气体分析仪。光谱仪的温控方法包括：获取环境温度T和环境相对湿度，根据环境温度T和环境相对湿度确定结露点，根据结露点确定温控区间最小值Ta；根据光谱仪的最佳工作温度区间确定温控区间最大值Tb；确定临界值Tc，Tc＝(Ta+Tb)/2；若环境温度T高于临界值Tc，对光谱仪进行降温，温控目标值为Ta；若环境温度T低于临界值Tc，对光谱仪进行加温，温控目标值为Tb。本发明采用分段式控温，使得光谱仪可满足宽范围环境温度的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱仪 温控 方法 装置 气体 分析 | ||
【主权项】：
1.一种光谱仪的温控方法，其特征在于，包括：获取环境温度T和环境相对湿度，根据所述环境温度T和环境相对湿度确定结露点，根据所述结露点确定温控区间最小值Ta；B、根据光谱仪的最佳工作温度区间确定温控区间最大值Tb；C、确定临界值Tc，Tc＝(Ta+Tb)/2；D、若所述环境温度T高于所述临界值Tc，对所述光谱仪进行降温，温控目标值为所述Ta；若所述环境温度T低于所述临界值Tc，对所述光谱仪进行加温，温控目标值为所述Tb。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京雪迪龙科技股份有限公司，未经北京雪迪龙科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910596321.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
