[发明专利]光谱仪的温控方法、温控装置及气体分析仪

权利要求书

1.一种光谱仪的温控方法，其特征在于，包括：

获取环境温度T和环境相对湿度，根据所述环境温度T和环境相对湿度确定结露点，根据所述结露点确定温控区间最小值Ta；

B、根据光谱仪的最佳工作温度区间确定温控区间最大值Tb；

C、确定临界值Tc，Tc=（Ta+Tb）/2；

D、若所述环境温度T高于所述临界值Tc，对所述光谱仪进行降温，温控目标值为所述Ta；若所述环境温度T低于所述临界值Tc，对所述光谱仪进行加温，温控目标值为所述Tb。

2.根据权利要求1所述光谱仪的温控方法，其特征在于，根据所述结露点确定温控区间最小值Ta包括：

设置所述温控区间最小值Ta高于所述结露点，并使所述温控区间最小值Ta与所述结露点的差值为第一预设值。

3.根据权利要求2所述光谱仪的温控方法，其特征在于，所述第一预设值为1℃。

4.根据权利要求1所述光谱仪的温控方法，其特征在于，根据光谱仪的最佳工作温度区间确定温控区间最大值Tb包括：

设置所述温控区间最大值Tb低于所述最佳工作温度区间的最大值，并使所述温控区间最大值Tb与所述最佳工作温度区间的最大值的差值为第二预设值。

5.根据权利要求4所述光谱仪的温控方法，其特征在于，所述第二预设值为1℃。

6.一种光谱仪温控装置，其特征在于，包括保温箱和控制单元，所述保温箱包括：

壳体，所述壳体内部为密闭的空腔；

加热片，位于所述空腔内，所述加热片连接所述控制单元；

制冷片，位于所述壳体的侧壁上，所述制冷片连接所述控制单元，所述制冷片的外侧壁上设有散热片；

温湿度传感器，位于所述壳体的外侧，连接所述控制单元，所述温湿度传感器检测环境温度T和环境相对湿度；

温度传感器，位于所述空腔内，连接所述控制单元，所述温度传感器检测所述空腔内的温度；

所述控制单元根据所述环境温度T和环境相对湿度确定结露点，根据所述结露点确定温控区间最小值Ta；根据光谱仪的最佳工作温度区间确定温控区间最大值Tb；根据所述温控区间最小值Ta和温控区间最大值Tb确定临界值Tc，Tc=（Ta+Tb）/2；若所述环境温度T高于所述临界值Tc，启动所述制冷片，将所述空腔内温控目标值设定为所述Ta；若所述环境温度T低于所述临界值Tc，启动所述加热片，将所述空腔内温控目标值设定为所述Tb。

7.根据权利要求6所述光谱仪温控装置，其特征在于，所述保温箱还包括隔热板，所述壳体的侧壁上设有开口，所述隔热板封闭所述开口，所述制冷片固定在所述隔热板上。

8.根据权利要求7所述光谱仪温控装置，其特征在于，所述保温箱还包括导温板，所述导温板位于所述空腔内，固定连接所述隔热板的内侧壁；所述加热片安装在所述导温板的下表面上，所述制冷片与所述导温板的侧壁接触。

9.根据权利要求6所述光谱仪温控装置，其特征在于，所述保温箱还包括风扇，所述风扇向所述散热片吹风。

10.一种气体分析仪，其特征在于，包括光谱仪和权利要求6~9任一所述的光谱仪温控装置，所述光谱仪位于所述壳体的空腔内。