[发明专利]一种多级压缩率可调静密封测试实验装置有效

专利信息
申请号: 201910592470.4 申请日: 2019-07-03
公开(公告)号: CN110274735B 公开(公告)日: 2020-06-30
发明(设计)人: 郭飞;吴凡;项冲;米尔阿地力江·阿木提;黄毅杰;贾晓红;王玉明;索双富;李永健;黄伟峰 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01M3/04 分类号: G01M3/04;G01M13/005
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所 61215 代理人: 段俊涛
地址: 100084 北京市海淀区1*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种多级压缩率可调静密封测试实验装置,包括:泄漏检测口、密封端盖、实验箱体、介质入口、介质出口、测试密封圈一、测试密封圈二、测试密封圈三、气体传感器、外密封。实验箱体固定在工作台上,密封端盖与实验箱体固定连接。密封端盖锥面处开有多个密封沟槽,以实现不同外圈直径、截面尺寸的单道密封圈及双道、多道O型圈等多级密封的密封性能测试。通过更换密封端盖与箱体间的垫圈调节两者间距离以实现不同预压缩率下的密封性能检测。
搜索关键词: 一种 多级 压缩率 可调 密封 测试 实验 装置
【主权项】:
1.一种多级压缩率可调静密封测试实验装置,其特征在于,包括实验箱体(3)和密封端盖(2),实验箱体(3)为圆柱形回转体压力容器,腔体内通密封气体,密封端盖(2)包括圆柱形的盖体和下设于盖体底面的锥面凸台,实验箱体(3)顶部设置有与凸台匹配的孔,凸台插入孔中,盖体连接于实验箱体(3)的顶面,凸台不同高度位置处有不同截面尺寸的环形密封沟槽,每个环形密封沟槽中设置有一道O型圈,从而实现不同直径、不同截面尺寸的O型圈的密封性能测试。
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